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龍圖騰網恭喜北京博視像元科技有限公司申請的專利一種單相機多投影的雙軸投射結構光三維重建測量系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119554995B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-02發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510134679.1，技術領域涉及：G01B11/25；該發明授權一種單相機多投影的雙軸投射結構光三維重建測量系統是由代蘇琴;李金華;朱江兵;楊軍超設計研發完成，并于2025-02-07向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種單相機多投影的雙軸投射結構光三維重建測量系統在說明書摘要公布了：本發明公開一種單相機多投影的雙軸投射結構光三維重建測量系統，涉及結構光測量技術領域。所述方法包括：使用結構光投影儀向檢測物投射結構光生成雙軸相位編碼條紋圖像并采集，根據圖像重建檢測物的高度圖，根據結構光投影儀組的安裝位置與采集的圖像剔除遮擋區域的噪聲并取得無遮擋的真實高度區域高度圖，將真實高度區域高度圖進行融合取得完整準確的一幅高度圖，根據高度圖取得檢測物的點云數據并進行三維重建；本發明能夠通過結構光投影儀投射45度旋轉的結構光并在檢測物上呈現雙軸相位編碼條紋，消除陰影和高反光的影響，增加有效點云數量，提升系統的測量精度和準確性，得到檢測物完整且準確的測量結果。

本發明授權一種單相機多投影的雙軸投射結構光三維重建測量系統在權利要求書中公布了：1.一種單相機多投影的雙軸投射結構光三維重建測量系統，其特征在于，包括：主支架（1）、結構光投影儀組（2）和高速工業采集相機（3）；主支架（1）的四周固定安裝結構光投影儀支架（11），通過結構光投影儀支架（11）將結構光投影儀組（2）固定在主支架（1）四周外部；主支架的一側上部固定安裝相機支架（12），通過相機支架將高速工業采集相機（3）固定在主支架（1）內部；結構光投影儀組（2）包括四個結構光投影儀，且四個結構光投影儀均沿各自的投影鏡頭光軸旋轉45度后，固定在對應的結構光投影儀支架（11）上；高速工業采集相機（3）固定在主支架（1）內部，下端安裝高精度雙遠心鏡頭（31），在高精度雙遠心鏡頭（31）正下方放置檢測物；四個結構光投影儀依次向檢測物投射±45度經過編碼的結構光光柵條紋，結構光光柵條紋到達檢測物后形成雙軸相位編碼條紋，高速工業采集相機（3）通過高精度雙遠心鏡頭（31）拍攝檢測物上的雙軸相位編碼條紋，形成雙軸相位編碼條紋圖像，根據雙軸相位編碼條紋圖像進行結構光三維重建，獲得檢測物的三維形貌；為了使檢測物表面呈現的相位編碼條紋為全畫幅清晰寬度相等且雙軸投射成±45度的雙軸相位編碼條紋，使用條紋校正技術對雙軸相位編碼條紋進行校正；其中，條紋校正技術通過對雙軸相位編碼條紋的旋轉度和條紋寬度進行優化使其為最優值，對雙軸相位編碼條紋調整為全畫幅清晰寬度相等且雙軸投射成±45度的雙軸相位編碼條紋；條紋校正技術實現方法如下：基于結構光投影儀旋轉角度通過函數調整雙軸相位編碼條紋的旋轉投射角度，其中，為旋轉度調整函數，為第條條紋旋轉前度數，為第條條紋旋轉后度數，的取值范圍為，為相位編碼條紋數，為結構光投影儀旋轉度數，為第條條紋的旋轉影響調整特征，為旋轉調整值，為條紋旋轉調整指數，為旋轉角度調整指數；通過公式計算得到雙軸相位編碼條紋清晰的條紋寬度，其中，為最優條紋寬度，為結構光的波長，為檢測物到高精度雙遠心鏡頭的最優距離選取，為檢測物到高速工業采集相機的最優距離選取，為相鄰兩條條紋之間的最優距離選取；基于最優條紋寬度通過函數調整條紋寬度，其中，為寬度調整函數，為第條條紋寬度，的取值范圍為，為相位編碼條紋總條數，為最優條紋寬度，為條紋寬度調整特征值，為條紋寬度調整特征值的調整指數。

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