恭喜中興通訊股份有限公司張正民獲國家專利權
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龍圖騰網(wǎng)恭喜中興通訊股份有限公司申請的專利用于光模塊的APD性能檢測方法、裝置、光網(wǎng)絡及介質獲國家發(fā)明授權專利權,本發(fā)明授權專利權由國家知識產(chǎn)權局授予,授權公告號為:CN114070389B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權局官網(wǎng)在2025-04-29發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉:該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為:202010756485.2,技術領域涉及:H04B10/073;該發(fā)明授權用于光模塊的APD性能檢測方法、裝置、光網(wǎng)絡及介質是由張正民;齊建設計研發(fā)完成,并于2020-07-31向國家知識產(chǎn)權局提交的專利申請。
本用于光模塊的APD性能檢測方法、裝置、光網(wǎng)絡及介質在說明書摘要公布了:本發(fā)明實施例公開了一種用于光模塊的雪崩光電二極管APD性能檢測方法、裝置、光網(wǎng)絡及介質。該用于光模塊的APD性能檢測方法,適用于包括光模塊和光網(wǎng)絡單元ONU的光網(wǎng)絡,所述方法包括:選取至少一個光網(wǎng)絡單元標識ONUID作為檢測ONUID;為所述檢測ONUID分配帶寬并且所述帶寬使能;獲取所述光模塊對于所述檢測ONUID的接收光功率;基于所述接收光功率判斷所述光模塊中APD的性能是否劣化,可以及時發(fā)現(xiàn)光模塊的APD出現(xiàn)劣化,減小APD性能劣化對光網(wǎng)絡正常運行的影響。
本發(fā)明授權用于光模塊的APD性能檢測方法、裝置、光網(wǎng)絡及介質在權利要求書中公布了:1.一種用于光模塊的APD性能檢測方法,適用于包括光模塊的光網(wǎng)絡,所述方法包括:選取至少一個光網(wǎng)絡單元標識ONUID作為檢測ONUID,至少一個所述ONUID包括以下至少一種:虛擬ONUID,空置的第一OUNID,已使用的第二ONUID;為所述檢測ONUID分配帶寬并且所述帶寬使能;獲取所述光模塊對于所述檢測ONUID的接收光功率,所述光模塊是光線路終端OLT的光模塊;基于所述接收光功率判斷所述光模塊中APD的性能是否劣化;所述基于所述接收光功率判斷所述光模塊中APD的性能是否劣化,具體包括:若所述接收光功率在預設的第一閾值范圍內,則確定所述光模塊的所述APD的性能劣化;或者,若所述接收光功率在預設的第二閾值范圍內,則確定所述光模塊的所述APD的性能未劣化;在所述檢測ONUID為所述已使用的第二ONUID的情況下,所述為所述檢測ONUID分配帶寬并且所述帶寬使能之前,所述方法還包括:在所述第二ONUID中選取所述檢測ONUID;關閉所述檢測ONUID的上行光信號。
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