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龍圖騰網恭喜遼寧榮信電力電子技術有限公司申請的專利一種IGBT模塊溫度采樣檢測系統及誤差優化方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN113253084B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-29發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202110463177.5，技術領域涉及：G01R31/26；該發明授權一種IGBT模塊溫度采樣檢測系統及誤差優化方法是由高金鑫;趙爽;吳然;陳鵬;孫賢大;王繼浩設計研發完成，并于2021-04-23向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種IGBT模塊溫度采樣檢測系統及誤差優化方法在說明書摘要公布了：本發明提供一種IGBT模塊溫度采樣檢測系統及誤差優化方法，檢測系統包括NTC采樣電路、光耦隔離和FPGA。NTC采樣電路包括由上至下串聯的NTC電阻R1、電阻R2、電容C1，還包括555芯片，NTC電阻R1為IGBT模塊內部的溫度采樣電阻，NTC電阻R1和電阻R2串聯的中間點連接至555芯片的模擬信號輸入端，電阻R2與電容C1串聯的中間點連接至555芯片的充放電路的觸發端，555芯片的輸出端為NTC采樣電路的輸出端，連接光耦隔離的輸入端，光耦隔離的輸出端連接至FPGA芯片的輸入。通過FPGA高速運行的特點，利用放電時電容值得誤差比較算法，運用新的周期運算時間就可以的非常準確的IGBT溫度，進而控制SVG設備的散熱系統，保證SVG設備的可靠運行，能夠提高IGBT模塊的溫度檢測的精度。

本發明授權一種IGBT模塊溫度采樣檢測系統及誤差優化方法在權利要求書中公布了：1.一種IGBT模塊溫度采樣檢測系統的檢測誤差優化方法，其特征在于，所述系統包括NTC采樣電路、光耦隔離和FPGA；所述的NTC采樣電路包括由上至下串聯的NTC電阻R1、電阻R2、電容C1，還包括555芯片，NTC電阻R1為IGBT模塊內部的溫度采樣電阻，NTC電阻R1的上端連接電源VCC，電容C1的下端接地，NTC電阻R1和電阻R2串聯的中間點連接至555芯片的模擬信號輸入端，電阻R2與電容C1串聯的中間點連接至555芯片的充放電路的觸發端，555芯片的輸出端為NTC采樣電路的輸出端，連接光耦隔離的輸入端，光耦隔離的輸出端連接至FPGA芯片的輸入；所述檢測誤差優化方法包括如下：步驟一、初始計算：在由NTC電阻R1，電阻R2，電容C1構成多諧振蕩器的充放電電路中，設電容C1的充放電時間分別為TH和TL，由RC電路對階躍激勵的全響應方程為：uct＝V0etτ+E1-etτ1其中：E＝VCC，τ＝R1+R2C1，將上式整理得： 對等式兩邊同時取以e為底的自然對數，得到充電時間為：TH＝R1+R2C1*Ln23同理，得到放電時間為：TL＝R2C1Ln24將充電時間和放電時間合在一起，得到振蕩周期T和頻率f分別為：T＝TH+TL＝R1+2R2C1*Ln25f＝1R1+2R2C1*Ln26在公式3中，R1作為NTC的采樣電阻，R2，C1作為常量，因此，通過不同的NTC電阻R1和周期T中充放電時間的關系，得到NTC電阻R1的值，從而得出IGBT的溫度值；步驟二、檢測誤差優化1在FPGA中，檢測FPGA的采樣輸入端口的脈沖長度，得出實時的新的放電時間和周期TLnew和Tnew；2由新的放電時間TLnew通過公式4計算出新的電容值C1new；3通過FPGA的算法公式7得到優化后的振蕩周期Tnew1，abs為絕對值函數； 4公式7計算出的振蕩周期Tnew1通過公式5進一步計算出對應優化后的NTC電阻R1new，進而得到優化后的IGBT的溫度。

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