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龍圖騰網(wǎng)恭喜深圳市合川醫(yī)療科技有限公司申請的專利基因測序芯片的集成式設(shè)計方法及系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN119647392B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-04-18發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202510152133.9，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06F30/392；該發(fā)明授權(quán)基因測序芯片的集成式設(shè)計方法及系統(tǒng)是由高雁;曾禮江;劉輝;賀杰設(shè)計研發(fā)完成，并于2025-02-12向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本基因測序芯片的集成式設(shè)計方法及系統(tǒng)在說明書摘要公布了：本發(fā)明涉及芯片集成設(shè)計領(lǐng)域，尤其涉及一種基因測序芯片的集成式設(shè)計方法及系統(tǒng)。該方法包括以下步驟：獲取基因測序芯片的初始設(shè)計圖紙；對所述初始設(shè)計圖紙進行多層級芯片框架設(shè)計，從而構(gòu)建多層級芯片仿真框架；基于基因測序芯片設(shè)計圖紙進行探針陣列布置多參數(shù)設(shè)計及通道分布可行性調(diào)整，從而得到多個芯片空間布置方案；基于多個芯片空間布置方案提取最優(yōu)芯片空間布置方案；并對多層級芯片仿真框架進行空間布置優(yōu)化，以得到空間優(yōu)化仿真框架；基于空間優(yōu)化仿真框架進行全周期基因測序仿真，采集基因測序仿真數(shù)據(jù)，并進行噪聲抑制電路設(shè)計，從而得到噪聲抑制電路策略。本發(fā)明通過優(yōu)化芯片設(shè)計中的布局，提高了芯片集成式設(shè)計的精度以及可靠性。

本發(fā)明授權(quán)基因測序芯片的集成式設(shè)計方法及系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種基因測序芯片的集成式設(shè)計方法，其特征在于，包括以下步驟：步驟S1：獲取基因測序芯片的初始設(shè)計圖紙；對所述初始設(shè)計圖紙進行多層級芯片框架設(shè)計，從而構(gòu)建多層級芯片仿真框架；步驟S2：基于基因測序芯片設(shè)計圖紙進行探針陣列布置多參數(shù)設(shè)計及通道分布可行性調(diào)整，從而得到多個芯片空間布置方案；步驟S3：基于多個芯片空間布置方案提取最優(yōu)芯片空間布置方案；并對多層級芯片仿真框架進行空間布置優(yōu)化，以得到空間優(yōu)化仿真框架；步驟S4：基于空間優(yōu)化仿真框架進行全周期基因測序仿真，采集基因測序仿真數(shù)據(jù)，并進行噪聲抑制電路設(shè)計，從而得到噪聲抑制電路策略；步驟S5：對基因測序仿真數(shù)據(jù)進行微流控響應(yīng)失衡挖掘，并進行響應(yīng)失衡補償計算，從而生成芯片響應(yīng)失衡補償參數(shù)；步驟S6：基于噪聲抑制電路策略及芯片響應(yīng)失衡補償參數(shù)進行最終芯片參數(shù)微調(diào)，從而得到最終芯片框架。

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