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龍圖騰網恭喜深圳市合川醫療科技有限公司申請的專利基因測序芯片的集成式設計方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119647392B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-18發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510152133.9，技術領域涉及：G06F30/392；該發明授權基因測序芯片的集成式設計方法及系統是由高雁;曾禮江;劉輝;賀杰設計研發完成，并于2025-02-12向國家知識產權局提交的專利申請。

本基因測序芯片的集成式設計方法及系統在說明書摘要公布了：本發明涉及芯片集成設計領域，尤其涉及一種基因測序芯片的集成式設計方法及系統。該方法包括以下步驟：獲取基因測序芯片的初始設計圖紙；對所述初始設計圖紙進行多層級芯片框架設計，從而構建多層級芯片仿真框架；基于基因測序芯片設計圖紙進行探針陣列布置多參數設計及通道分布可行性調整，從而得到多個芯片空間布置方案；基于多個芯片空間布置方案提取最優芯片空間布置方案；并對多層級芯片仿真框架進行空間布置優化，以得到空間優化仿真框架；基于空間優化仿真框架進行全周期基因測序仿真，采集基因測序仿真數據，并進行噪聲抑制電路設計，從而得到噪聲抑制電路策略。本發明通過優化芯片設計中的布局，提高了芯片集成式設計的精度以及可靠性。

本發明授權基因測序芯片的集成式設計方法及系統在權利要求書中公布了：1.一種基因測序芯片的集成式設計方法，其特征在于，包括以下步驟：步驟S1：獲取基因測序芯片的初始設計圖紙；對所述初始設計圖紙進行多層級芯片框架設計，從而構建多層級芯片仿真框架；步驟S2：基于基因測序芯片設計圖紙進行探針陣列布置多參數設計及通道分布可行性調整，從而得到多個芯片空間布置方案；步驟S3：基于多個芯片空間布置方案提取最優芯片空間布置方案；并對多層級芯片仿真框架進行空間布置優化，以得到空間優化仿真框架；步驟S4：基于空間優化仿真框架進行全周期基因測序仿真，采集基因測序仿真數據，并進行噪聲抑制電路設計，從而得到噪聲抑制電路策略；步驟S5：對基因測序仿真數據進行微流控響應失衡挖掘，并進行響應失衡補償計算，從而生成芯片響應失衡補償參數；步驟S6：基于噪聲抑制電路策略及芯片響應失衡補償參數進行最終芯片參數微調，從而得到最終芯片框架。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人深圳市合川醫療科技有限公司，其通訊地址為：518000 廣東省深圳市龍華區大浪街道華興路中建工業區2棟1-2樓；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。