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龍圖騰網恭喜杭州電子科技大學申請的專利基于干涉原理獲取電離層不均勻體空間分布特性的方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114660665B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202111646095.0，技術領域涉及：G01V3/12；該發明授權基于干涉原理獲取電離層不均勻體空間分布特性的方法是由喬磊;孔令魯;李小龍;蔡雪思;陳鍇涵設計研發完成，并于2021-12-30向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于干涉原理獲取電離層不均勻體空間分布特性的方法在說明書摘要公布了：本發明提供一種基于干涉原理獲取電離層不均勻體空間分布特性的方法，涉及空間環境探測技術領域，包括以下步驟：S1：實際回波信號進行相位校正，獲取系統相位偏差；S2：獲取目標不均勻體散射回波互相關幅度譜，篩選有效信息；S3：獲取不同雷達陣列到目標不均勻體間的相位差和回波信號的方位角和仰角的關系，進行系統相位校正與不均勻體三維空間結構定位。本發明執行簡單，合理并充分利用信號處理推論和數學模型，將對電離層不均勻體的探測難度轉化為數據處理的計算難度，大大降低了對探測設備的苛刻要求；另外可以對回波信息進行了篩選并進行相位偏差校正，有效提高探測結果的精確度和可靠度。

本發明授權基于干涉原理獲取電離層不均勻體空間分布特性的方法在權利要求書中公布了：1.一種基于干涉原理獲取電離層不均勻體空間分布特性的方法，其特征在于，包括以下步驟：S1：實際回波信號進行相位校正，獲取系統相位偏差；S2：獲取目標不均勻體散射回波互相關幅度譜，篩選有效信息；S3：獲取不同雷達陣列到目標不均勻體間的相位差和回波信號的方位角和仰角的關系，進行系統相位校正與不均勻體三維空間結構定位；執行步驟S1時，具體包括以下步驟：S11：選定雷達上空波束指向可能觀測到的不均勻體分布范圍，包括方向角、仰角和高度范圍，并計算每個位置的緯度、經度和海拔；S12：投入所求得目標點空間信息，計算每個位置的地磁場矢量，得到垂直分量、緯向分量和經向分量；S13：投入實際雷達接收到的回波數據，獲取實際情況下的相位散布信息；S14：對比預測回波區域對應相位差范圍，對實際回波信號進行相位校正，獲取系統相位偏差；執行步驟S2時，具體包括以下步驟：S21：獲取目標散射回波互相關幅度譜；S22：經過互相關干涉法求出相位差；S23：利用干涉法方程式計算三維空間特性，根據散射雷達陣列的排列特性，建立球坐標系數學模型；S24：根據相位偏差和信號相關性品質，篩選可用相位信息；執行步驟S21時，具體包括以下步驟：S211：獲取不同雷達陣列在接收回波信號時的時間差；S212：計算得到同一時間兩束回波信號之間的相位差；S213：將回波信號經過混頻、濾波處理，進行傅里葉變換；S214：進一步做互相關運算得到歸一化互相關頻譜；執行步驟S3時，具體包括以下步驟：S31：篩選得到有效信息后，利用步驟S1中的相位偏差校正結果，根據不均勻體在球坐標系中的位置關系，推算出目標不均勻體的方位角和仰角；S32：根據回波距離計算不均勻體的三維空間分布特性；執行步驟S32時，將地球曲率半徑引起的誤差進行消除。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人杭州電子科技大學，其通訊地址為：310018 浙江省杭州市杭州經濟技術開發區白楊街道2號大街1158號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。