恭喜武漢精立電子技術有限公司;武漢精測電子集團股份有限公司李淵獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜武漢精立電子技術有限公司;武漢精測電子集團股份有限公司申請的專利一種Micro LED顯示面板缺陷檢測裝置及方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115112675B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-15發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202210710592.0,技術領域涉及:G01N21/95;該發明授權一種Micro LED顯示面板缺陷檢測裝置及方法是由李淵;王雷;毛涌;余鑫;江寶焜設計研發完成,并于2022-06-22向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種Micro LED顯示面板缺陷檢測裝置及方法在說明書摘要公布了:本發明公開了一種MicroLED顯示面板缺陷檢測裝置及方法。所述裝置包括色彩分析儀、面陣式色度計、面陣式相機、控制模塊和數據處理模塊;色彩分析儀用于獲取顯示面板點亮第一畫面集合時指定區域的第一亮度色度數據;控制模塊用于控制顯示面板根據第一亮度色度數據進行Gamma校正,控制面陣式色度計采集經過Gamma校正后的顯示面板點亮第二畫面集合時的第二亮度色度數據,控制面陣式相機采集顯示面板中LED外觀圖像;數據處理模塊根據第二亮度色度數據確定色度或亮度異常的異常LED點及其坐標,并根據LED外觀圖像確定異常LED點的缺陷類別。本發明可以檢測MicroLED顯示面板的多種缺陷。
本發明授權一種Micro LED顯示面板缺陷檢測裝置及方法在權利要求書中公布了:1.一種MicroLED顯示面板缺陷檢測裝置,其特征在于,包括:色彩分析儀、面陣式色度計、面陣式相機、控制模塊和數據處理模塊;所述色彩分析儀用于獲取顯示面板點亮第一畫面集合時指定區域的第一亮度色度數據;所述控制模塊用于控制所述顯示面板根據所述第一亮度色度數據進行Gamma校正,控制所述面陣式色度計采集經過Gamma校正后的所述顯示面板點亮第二畫面集合時的第二亮度色度數據,控制所述面陣式相機采集顯示面板中LED外觀圖像;所述數據處理模塊用于根據所述第二亮度色度數據確定色度或亮度異常的異常LED點及其坐標,并根據所述LED外觀圖像確定所述異常LED點的缺陷類別;若所述LED外觀圖像中顯示所述異常LED點無LED顆粒,則所述異常LED點為缺失缺陷;若所述LED外觀圖像中顯示所述異常LED點有LED顆粒,則所述異常LED點為死點缺陷。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人武漢精立電子技術有限公司;武漢精測電子集團股份有限公司,其通訊地址為:430205 湖北省武漢市東湖新技術開發區流芳園南路22號;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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