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龍圖騰網恭喜國家納米科學中心申請的專利納米線成像裝置及群折射率測量方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115684011B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211236686.5，技術領域涉及：G01N21/01；該發明授權納米線成像裝置及群折射率測量方法是由劉新風;吳憲欣;張帥;杜文娜設計研發完成，并于2022-10-10向國家知識產權局提交的專利申請。

本納米線成像裝置及群折射率測量方法在說明書摘要公布了：本發明提供一種納米線成像裝置及群折射率測量方法。其裝置中飛秒激光光源與顯微物鏡進行光路連接，以使顯微物鏡將飛秒激光光源的激發光聚焦于樣品臺上的納米線樣品，以作為泵浦光將納米線樣品激發，從而使納米線樣品產生激射，輻射出具有相干性的出射光；且第一分束片與顯微物鏡進行光路連接，以將顯微物鏡收集的出射光劃分為第一束光和第二束光，而用于反射第二束光的第二反射鏡設于滑動組件，從而使第二反射鏡可以沿遠離或接近第一分束片的方向移動，進而實現第一束光和第二束光的光程差控制，以使第一成像裝置獲得不同延遲時間的重疊成像，實現時間尺度上的信號分辨，滿足光脈沖產生和傳輸過程的探測需求，從而為群折射率測量提供支持。

本發明授權納米線成像裝置及群折射率測量方法在權利要求書中公布了：1.一種利用納米線成像裝置實現的群折射率測量裝置，其特征在于，所述納米線成像裝置包括：樣品臺、飛秒激光光源、顯微物鏡、干涉儀和第一成像裝置，所述干涉儀包括第一分束片、第一反射鏡、滑動組件和第二反射鏡；所述樣品臺用于放置待測量的納米線樣品；所述飛秒激光光源與所述顯微物鏡進行光路連接，所述顯微物鏡用于將所述飛秒激光光源的激發光聚焦于所述納米線樣品，所述顯微物鏡還用于收集所述納米線樣品的出射光，所述出射光為所述激發光使所述納米線樣品產生激射后發出的具有相干性的光；所述第一分束片與所述顯微物鏡進行光路連接，所述第一分束片用于將所述出射光劃分為第一束光和第二束光；所述第一反射鏡與所述第一分束片進行光路連接，所述第一反射鏡用于將所述第一束光反射至所述第一分束片；所述第二反射鏡與所述第一分束片進行光路連接，所述第二反射鏡用于將所述第二束光反射至所述第一分束片，所述第二反射鏡設于所述滑動組件，所述滑動組件用于使所述第二反射鏡沿遠離或接近所述第一分束片的方向移動；所述第一成像裝置與所述第一分束片進行光路連接，以使反射的第一束光傳輸至所述第一成像裝置，反射的第二束光傳輸至所述第一成像裝置，以供所述第一成像裝置獲得所述納米線樣品的重疊成像；所述納米線成像裝置還包括：濾光片、光譜儀、可翻折鏡和控制器；所述第一分束片通過所述濾光片與所述顯微物鏡進行光路連接；所述顯微物鏡還用于收集被所述納米線樣品反射的反射光，所述濾光片用于阻擋所述反射光，并傳輸所述出射光；所述控制器用于控制可翻折鏡，以使所述濾光片與所述第一分束片進行光路連接，或者使所述濾光片與所述光譜儀進行光路連接；在所述濾光片與所述光譜儀進行光路連接的情況下，所述光譜儀用于檢測信號光的波長信息，所述信號光為所述濾光片過濾后的光；所述控制器用于基于所述波長信息調整所述濾光片的通過波長；所述第二反射鏡為中空鏡，所述中空鏡包括第一鏡子和第二鏡子，所述第一鏡子與所述第二鏡子的鏡面夾角為90度；所述第一鏡子用于將所述第二束光反射至所述第二鏡子，所述第二鏡子用于將經過所述第一鏡子反射的第二束光反射至所述第一分束片；所述群折射率測量裝置包括：信息獲取模塊，用于在當前成像輪次下，獲取所述滑動組件的位置信息，并基于所述位置信息確定所述當前成像輪次的延遲時間；成像獲取模塊，用于獲取所述第一成像裝置在所述當前成像輪次下獲取的重疊成像；組件控制模塊，用于在所述當前成像輪次不為最后一個成像輪次的情況下，控制所述滑動組件移動，以移動所述滑動組件至下一成像輪次的位置，并將所述下一成像輪次作為所述當前成像輪次，獲得多個不同延遲時間的重疊成像；信息確定模塊，用于基于所述多個不同延遲時間的重疊成像，確定干涉條紋強度分布信息；群折射率確定模塊，用于基于所述干涉條紋強度分布信息、所述多個不同延遲時間的重疊成像的延遲時間和所述納米線樣品的長度，確定群速度，并基于所述群速度確定所述納米線樣品的群折射率。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人國家納米科學中心，其通訊地址為：100190 北京市海淀區中關村北一條11號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。