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龍圖騰網恭喜深圳市譽辰智能裝備股份有限公司申請的專利一種芯片測試裝置獲國家實用新型專利權，本實用新型專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN222762201U 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-15發布的實用新型授權公告中獲悉：該實用新型的專利申請號/專利號為：202421068491.9，技術領域涉及：G01R1/04；該實用新型一種芯片測試裝置是由李克貴;何建軍;楊飛瑤設計研發完成，并于2024-05-15向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種芯片測試裝置在說明書摘要公布了：本實用新型提供了一種芯片測試裝置，包括全方位微調機構、芯片測試前支架、芯片測試后支架和芯片測試機構，芯片測試前支架包括前支架立架、前支架高度調整件、前支架頂板；芯片測試機構固定于前支架頂板和芯片測試后支架上；全方位微調機構，用于微調芯片測試機構的XYZ位置使對正外部送料裝置始終吸持著的芯片，前支架高度調整件用于調整前支架頂板相對芯片測試后支架的高度，進一步微調芯片測試機構的高度位置，芯片測試機構用于芯片測試，其中芯片測試治具用于扶持芯片，芯片測試治具浮動組件用于浮動承載芯片測試治具，芯片測試電極組件用于測試芯片。測試中芯片不需要放下，芯片測試效率高。

本實用新型一種芯片測試裝置在權利要求書中公布了：1.一種芯片測試裝置，其特征在于，包括全方位微調機構400、芯片測試前支架2、芯片測試后支架3和芯片測試機構1；所述芯片測試前支架2和芯片測試后支架3分別固定于所述全方位微調機構400的前端和后端，所述芯片測試機構1固定于所述芯片測試前支架2和所述芯片測試后支架3上，所述全方位微調機構400固定于機臺100上，用于微調所述芯片測試機構1的XYZ位置，使所述芯片測試機構1對正外部送料裝置始終吸持著的芯片10；所述芯片測試前支架2包括前支架立架201、前支架高度調整件202、前支架頂板203；所述前支架立架201固定于所述全方位微調機構400上，所述前支架高度調整件202安裝于所述前支架立架201與所述全方位微調機構400之間，所述前支架頂板203固定于所述前支架立架201上，所述芯片測試后支架3固定于所述全方位微調機構400上，所述芯片測試機構1固定于所述前支架頂板203和所述芯片測試后支架3上；所述前支架高度調整件202用于調整所述前支架頂板203相對所述芯片測試后支架3的高度，進一步微調所述芯片測試機構1的高度位置，所述芯片測試機構1用于測試芯片10。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人深圳市譽辰智能裝備股份有限公司，其通訊地址為：518000 廣東省深圳市寶安區沙井街道共和社區新和大道麗城科技工業園M棟一層到六層；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。