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龍圖騰網恭喜上海贏朔電子科技股份有限公司申請的專利一種轉盤式高溫測試機構的區間溫度控制方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119200710B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-04發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411710442.5，技術領域涉及：G05D23/20；該發明授權一種轉盤式高溫測試機構的區間溫度控制方法及系統是由朱曉玲;艾兵;張燁超設計研發完成，并于2024-11-27向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種轉盤式高溫測試機構的區間溫度控制方法及系統在說明書摘要公布了：本申請涉及芯片測試的技術領域，公開一種轉盤式高溫測試機構的區間溫度控制方法及系統，方法包括：獲取位于芯片測試站前第一測溫點的第一溫度值；獲取位于芯片測試站后第二測溫點的第二溫度值；判斷第二溫度值是否低于設定的第一溫度閾值，若低于，則為無效測試，進行預警；若不低于，計算第一溫度值與第二溫度值的差值為第一溫度差值；若第一溫度差值大于設定閾值，則為有效測試；若第一溫度差值小于等于設定閾值，則為無效測試，進行預警；計算第一溫度差值在第一設定時間段內的第一平均值；如果第一平均值超過設定第一平均閾值，則根據第一平均值正相關調節加熱盤的加熱溫度。本申請使得芯片前后溫度都可控，提高了芯片測試的準確度。

本發明授權一種轉盤式高溫測試機構的區間溫度控制方法及系統在權利要求書中公布了：1.一種轉盤式高溫測試機構的區間溫度控制方法，其特征在于，包括如下步驟：獲取位于芯片測試站1前第一設定距離處第一測溫點2的第一溫度值；獲取位于芯片測試站1后第二設定距離處第二測溫點3的第二溫度值；判斷所述第二溫度值是否低于設定的第一溫度閾值，若所述第二溫度值低于設定的第一溫度閾值，則判斷芯片測試站1當前的測試為無效測試，進行預警；若所述第二溫度值不低于設定的第一溫度閾值，計算所述第一溫度值與所述第二溫度值的差值為第一溫度差值；若所述第一溫度差值大于設定閾值，則判斷為芯片測試站1當前的測試為有效測試；若所述第一溫度差值小于等于所述設定閾值，則判斷芯片測試站1當前的測試為無效測試，進行預警；計算所述第一溫度差值在第一設定時間段內的第一平均值；如果所述第一平均值超過設定的第一平均閾值，則根據所述第一平均值調節加熱盤5的加熱溫度；所述第一平均值越大，所述加熱盤5的加熱溫度增加的溫度越多；所述第一平均值越小，所述加熱盤5的加熱溫度增加的溫度越少。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人上海贏朔電子科技股份有限公司，其通訊地址為：201799 上海市青浦區久遠路389號2幢；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。