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龍圖騰網恭喜深圳精智達技術股份有限公司申請的專利一種含電路區的顯示屏圖像的處理方法、裝置及存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119251219B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-04發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411765009.1，技術領域涉及：G06T7/00；該發明授權一種含電路區的顯示屏圖像的處理方法、裝置及存儲介質是由施冬冬;楊碩;張濱;邱海濱設計研發完成，并于2024-12-04向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種含電路區的顯示屏圖像的處理方法、裝置及存儲介質在說明書摘要公布了：本申請公開了一種含電路區的顯示屏圖像的處理方法、裝置及存儲介質，用于提高含電路區的顯示屏圖像的屏體缺陷檢測精度。對待測顯示屏進行拍攝，生成顯示屏圖像；生成電路區外觀圖像、顯示區外觀圖像和邊界區外觀圖像；生成限樣屏電路區外觀圖像；對電路區外觀圖像和限樣屏電路區外觀圖像進行降采樣，生成第一和第二壓縮圖像；生成灰度形態學結構核算子；為第一和第二壓縮圖像進行底帽運算、形態學膨脹和算數運算、閾值分析處理和上采樣擴大處理，生成目標電路區外觀圖像；對顯示區外觀圖像進行自適應強調濾波算法處理，生成目標顯示區外觀圖像；目標電路區外觀圖像、目標顯示區外觀圖像和邊界區外觀圖像進行缺陷檢測，輸出缺陷分析結果。

本發明授權一種含電路區的顯示屏圖像的處理方法、裝置及存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種含電路區的顯示屏圖像的處理方法，其特征在于，包括：開啟光源，通過工業線掃相機對待測顯示屏進行拍攝，生成顯示屏圖像，所述待測顯示屏內含電路結構；對所述顯示屏圖像進行區域紋理結構劃分，生成電路區外觀圖像、顯示區外觀圖像和邊界區外觀圖像；選取一塊標準限樣屏，并對所述標準限樣屏進行拍攝，生成限樣屏電路區外觀圖像，所述標準限樣屏與所述待測顯示屏為同類型顯示屏，所述標準限樣屏為無缺陷顯示屏；對所述電路區外觀圖像和所述限樣屏電路區外觀圖像進行降采樣，生成第一壓縮圖像和第二壓縮圖像；根據所述電路區外觀圖像對應的屏體檢測缺陷生成灰度形態學結構核算子；根據所述灰度形態學結構核算子為所述第一壓縮圖像和所述第二壓縮圖像分別進行底帽算法；將進行了底帽算法后的所述第一壓縮圖像和所述第二壓縮圖像進行形態學膨脹和算數運算得到結果圖像；對所述結果圖像進行閾值分析處理和上采樣擴大處理，生成目標電路區外觀圖像；對所述顯示區外觀圖像構造自適應核因子進行強調濾波算法，生成目標顯示區外觀圖像；對所述目標電路區外觀圖像、所述目標顯示區外觀圖像和所述邊界區外觀圖像進行缺陷檢測，輸出缺陷分析結果。

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