恭喜上海艾為電子技術股份有限公司蔣知廣獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜上海艾為電子技術股份有限公司申請的專利數字集成電路的掃描鏈測試方法、系統及數字集成電路獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115078978B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-01發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202110264997.1，技術領域涉及：G01R31/3185；該發明授權數字集成電路的掃描鏈測試方法、系統及數字集成電路是由蔣知廣;張忠設計研發完成，并于2021-03-11向國家知識產權局提交的專利申請。
本數字集成電路的掃描鏈測試方法、系統及數字集成電路在說明書摘要公布了：本發明提供了一種數字集成電路的掃描鏈測試方法及系統，方法包括將切換向量和輸入數據向量按照預設規則轉換為組合向量，進而根據組合向量生成組合信號并輸入到數字集成電路，然后在數字集成電路內對組合信號進行分離，得到切換信號和輸入數據信號，進而進行掃描鏈測試。通過將原來的兩個信號組合為一個信號輸入到數字集成電路，減少了一個PAD端口的需求量，因此，只需要三個PAD端口即可進行掃描鏈測試，具體的，一個PAD端口用于輸入組合信號，一個PAD端口用于輸入系統時鐘，最后一個PAD端口用于掃描鏈的輸出信號的輸出。提高了只有三個PAD端口的數字集成電路的測試覆蓋率與可觀測性，進而提高了量產測試的質量。
本發明授權數字集成電路的掃描鏈測試方法、系統及數字集成電路在權利要求書中公布了：1.一種數字集成電路的掃描鏈測試方法，其特征在于，包括：將切換向量和輸入數據向量中的數據進行交叉排列，得到組合向量；根據所述組合向量生成相應的組合信號；在所述數字集成電路中將所述組合信號分離為切換信號和輸入數據信號；利用所述切換信號、所述輸入數據信號和系統時鐘對所述數字集成電路進行掃描鏈測試，得到所述數字集成電路實際的輸出信號；對理論的輸出數據向量和所述實際的輸出信號進行對比，得到掃描鏈測試結果。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人上海艾為電子技術股份有限公司，其通訊地址為：201199 上海市閔行區秀文路908弄2號1201室；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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