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龍圖騰網恭喜西京學院申請的專利一種基于可逆熱流法測量高中子注量率的方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115064290B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-01發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202111564178.5，技術領域涉及：G21C17/108；該發明授權一種基于可逆熱流法測量高中子注量率的方法是由楊銅鎖;朱慶福;史永謙;張建祥;王璠;彭旦;魯瑾;辛督強設計研發完成，并于2021-12-20向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于可逆熱流法測量高中子注量率的方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于可逆熱流法測量高中子注量率的方法，該方法包含：S100選用硼晶體；S200得到n份刻度樣品包；S300將刻度樣品包分別放入中子注量率恒定的熱中子核反應堆中輻照；S400用調制差示掃描量熱法掃描其對應可逆熱流曲線；S500以刻度探測器樣品包的中子注量和可逆熱流變化量擬合；S600把待測樣品在待測中子注量率的反應堆輻照后，測量出可逆熱流改變量，求出待測樣品在待測堆所受的中子注量，根據輻照時間算出待測堆輻照樣品時的注量率。本發明的方法能夠根據輻照注量和可逆熱流改變量的關系獲得中子注量率，特別適合測量高注量核反應堆中子注量率。

本發明授權一種基于可逆熱流法測量高中子注量率的方法在權利要求書中公布了：1.一種基于可逆熱流法測量高中子注量率的方法，其特征在于，該方法包含：S100將硼晶體分為兩部分，一部分作為刻度探測器的樣品使用，一部分作為待測樣品；S200將刻度探測器的樣品分為n份，n≥5，用聚乙烯薄膜包裹，得到n份刻度樣品包；S300將n份刻度樣品包分別放入中子注量率恒定的熱中子核反應堆中輻照，輻照時間分別為tn，得到n份受到不同輻照注量的刻度樣品包；S400分別對n份刻度樣品包用調制差示掃描量熱法掃描其對應可逆熱流曲線，條件為：保護氣體為氮氣，調制溫度±0.477℃min，調制周期為60s，掃描速率3℃min，溫度范圍35℃～135℃，在42℃～125℃積分其可逆熱流變化量；S500獲得各刻度探測器樣品包的可逆熱流變化量和對應的中子注量，以刻度探測器樣品包的中子注量和可逆熱流變化量擬合，得到擬合方程為y＝ax+b，y為可逆熱流變化量，x為中子注量，a為擬合得到的系數，b為擬合得到的常數；S600把待測樣品在待測中子注量率的反應堆輻照時間t后，用步驟S400的調制差示掃描量熱法測量出可逆熱流改變量，作為擬合方程中的y值，將y值代入擬合方程求出待測樣品在待測堆所受的中子注量x，根據輻照時間t算出待測堆輻照樣品時的注量率。

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