恭喜電子科技大學張瓊獲國家專利權
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龍圖騰網(wǎng)恭喜電子科技大學申請的專利基于X射線源進行刻度的密度測井儀器探頭及其刻度方法獲國家發(fā)明授權專利權，本發(fā)明授權專利權由國家知識產(chǎn)權局授予，授權公告號為：CN119021687B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權局官網(wǎng)在2025-03-25發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉：該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為：202411075369.9，技術領域涉及：E21B49/00；該發(fā)明授權基于X射線源進行刻度的密度測井儀器探頭及其刻度方法是由張瓊;謝昱北設計研發(fā)完成，并于2024-08-07向國家知識產(chǎn)權局提交的專利申請。
本基于X射線源進行刻度的密度測井儀器探頭及其刻度方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了基于X射線源進行刻度的密度測井儀器探頭及其刻度方法，屬于核測井技術領域，具體采用可拆卸的線路短節(jié)和Cs?137源短節(jié)構成密度測井儀器探頭，并利用X射線源短節(jié)替換Cs?137源短節(jié)，利用各密度對應的近源距系數(shù)和遠源距系數(shù)，將X射線源刻度獲得的近源距計數(shù)率自然對數(shù)和遠源距計數(shù)率自然對數(shù)轉(zhuǎn)換為Cs?137源的，以完成Cs?137源的密度測井儀刻度，最后再安裝Cs?137源短節(jié)進行測井；由于X射線源不通電則沒有放射性，本發(fā)明利用X射線源完成密度測井儀刻度，可完全消除操作人員在儀器刻度過程中的輻射暴露。
本發(fā)明授權
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢嗳?a target="_blank" rel="noopener noreferrer nofollow" >電子科技大學
免責聲明
1、本報告根據(jù)公開、合法渠道獲得相關數(shù)據(jù)和信息，力求客觀、公正，但并不保證數(shù)據(jù)的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發(fā)布本報告當日的職業(yè)理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據(jù)或者憑證。
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