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龍圖騰網恭喜成都阿普奇科技股份有限公司;蘇州阿普奇物聯網科技有限公司申請的專利一種用于布匹瑕疵圖像檢測中提升均值平均精度的方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114663422B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-03-21發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210369525.7，技術領域涉及：G06T7/00；該發明授權一種用于布匹瑕疵圖像檢測中提升均值平均精度的方法是由王德全;吳戈;王小勇設計研發完成，并于2022-04-08向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種用于布匹瑕疵圖像檢測中提升均值平均精度的方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種用于布匹瑕疵圖像檢測中提升均值平均精度的方法，其包括收集紡織中多種布匹瑕疵類型的圖像；使用插值法對收集到的圖像進行預處理，得到設定長寬的標準圖像，并對標準圖像中的實際瑕疵框和或瑕疵類型進行描述，標注實際瑕疵框元組；對實際瑕疵框元組進行處理，獲取實際瑕疵框的寬高比作為先驗數據的維度，擬合調整先驗框的大小與尺度，對先驗框進行優化選取；根據先驗框，使用目標檢測算法進行監督訓練，獲得訓練參數，計算mAP。該用于布匹瑕疵圖像檢測中提升均值平均精度的方法為基于機器視覺的通用目標檢測算法的先驗框選取加入先驗條件，更好地匹配瑕疵目標檢測的位置和大小，且識別出的瑕疵位置和大小均有較高提升。

本發明授權一種用于布匹瑕疵圖像檢測中提升均值平均精度的方法在權利要求書中公布了：1.一種用于布匹瑕疵圖像檢測中提升均值平均精度的方法，其特征在于，包括如下步驟：S1.收集紡織中多種布匹瑕疵類型的圖像；S2.使用插值法對收集到的圖像進行預處理，得到設定長寬的標準圖像，并對標準圖像中的實際瑕疵框和或瑕疵類型進行描述，標注實際瑕疵框元組；S3.對實際瑕疵框元組進行處理，獲取實際瑕疵框的寬高比作為先驗數據的維度，擬合調整先驗框的大小與尺度，對先驗框進行優化選取；所述步驟S3的具體步驟為：S31.遍歷訪問所有標記的實際瑕疵框元組，并記為Ti，S32.根據公式 計算p＝TiwTih≥1，獲取實際瑕疵框的寬高比作為先驗數據的維度；S33.將實際瑕疵框的寬高比統一為長邊與短邊的比值，并對寬高比進行運算，得到一個寬高比序列P0＝{P1，P2，P3...Pn}，n≥1，n≤Np，并對寬高比序列進行排序擬合分析，優化選取先驗框大小和尺度；其中，Pi為瑕疵值，Tiw為瑕疵的寬度，Tih為瑕疵的高度，Np為圖像總數；S4.根據優化先驗框，使用目標檢測算法進行監督訓練，獲得訓練參數，計算mAP。

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