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龍圖騰網(wǎng)恭喜佛山市塔孚汽車照明有限公司申請的專利一種AOI機(jī)器視覺的電路板質(zhì)檢方法及系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN120044054B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-07-04發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號(hào)為：202510512542.5，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N21/956；該發(fā)明授權(quán)一種AOI機(jī)器視覺的電路板質(zhì)檢方法及系統(tǒng)是由彭國軍;樊楊華;王衛(wèi)東;周有射設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2025-04-23向國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種AOI機(jī)器視覺的電路板質(zhì)檢方法及系統(tǒng)在說明書摘要公布了：本發(fā)明提供一種AOI機(jī)器視覺的電路板質(zhì)檢方法及系統(tǒng)，屬于機(jī)器視覺技術(shù)領(lǐng)域,方法包括：訓(xùn)練AI質(zhì)檢模型，AI質(zhì)檢模型集成了特征提取模塊和特征對比模塊；獲取AOI設(shè)備對檢測電路板的機(jī)器視覺檢測結(jié)果；將機(jī)器視覺檢測結(jié)果輸入AI質(zhì)檢模型，獲取質(zhì)檢結(jié)果；根據(jù)目標(biāo)元件在電路板中的接入特征確定用于參考特征提取的元件參考圖的補(bǔ)充策略。本發(fā)明的一種AOI機(jī)器視覺的電路板質(zhì)檢方法及系統(tǒng)，通過多樣的訓(xùn)練樣本訓(xùn)練AI質(zhì)檢模型，利用AI質(zhì)檢模型自動(dòng)根據(jù)機(jī)器視覺檢測結(jié)果輸出質(zhì)檢結(jié)果，提高了質(zhì)檢系統(tǒng)的直通率、極大降低了復(fù)檢的人力成本，后續(xù)參考特征提取更全面。

本發(fā)明授權(quán)一種AOI機(jī)器視覺的電路板質(zhì)檢方法及系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種AOI機(jī)器視覺的電路板質(zhì)檢方法，其特征在于，包括： 步驟1：訓(xùn)練AI質(zhì)檢模型，AI質(zhì)檢模型集成了特征提取模塊和特征對比模塊； 步驟2：獲取AOI設(shè)備對檢測電路板的機(jī)器視覺檢測結(jié)果； 步驟3：將機(jī)器視覺檢測結(jié)果輸入AI質(zhì)檢模型，利用特征提取模塊提取機(jī)器視覺檢測結(jié)果中的對比特征和元件參考圖中的參考特征，利用特征對比模塊對比參考特征和對比特征，獲取質(zhì)檢結(jié)果； 利用特征提取模塊提取元件參考圖中的參考特征時(shí)進(jìn)行全方位特征提取，包括： 確定屬于同一目標(biāo)元件的元件參考圖組； 根據(jù)元件參考圖組，確定拍攝目標(biāo)元件時(shí)的拍攝環(huán)境條件-相機(jī)姿態(tài)配對組； 獲取目標(biāo)元件的接入特征，接入特征包括：目標(biāo)元件的三維數(shù)據(jù)、接入電路板引腳以及預(yù)設(shè)范圍內(nèi)相鄰元件的位置關(guān)系； 根據(jù)接入特征，規(guī)劃目標(biāo)元件的理想相機(jī)姿態(tài)序列； 依次遍歷理想相機(jī)姿態(tài)序列中的理想相機(jī)姿態(tài)，根據(jù)正在遍歷的理想相機(jī)姿態(tài)的模擬拍攝圖像配置理想拍攝環(huán)境條件，并將理想拍攝環(huán)境條件和正在遍歷的理想相機(jī)姿態(tài)進(jìn)行配對； 當(dāng)理想相機(jī)姿態(tài)序列中的理想相機(jī)姿態(tài)均遍歷完成后，獲得配對項(xiàng)組； 基于支持分析規(guī)則，根據(jù)拍攝環(huán)境條件-相機(jī)姿態(tài)配對組和配對項(xiàng)組，確定每一配對項(xiàng)的支持分析結(jié)果； 根據(jù)支持分析結(jié)果，補(bǔ)充元件參考圖組； 其中，步驟1：訓(xùn)練AI質(zhì)檢模型，包括： 獲取訓(xùn)練樣本，訓(xùn)練樣本包括NG樣本和OK樣本，每個(gè)訓(xùn)練樣本包含的信息包括：電路板上每個(gè)元件的位置坐標(biāo)以及對應(yīng)位置的元件的質(zhì)檢結(jié)果標(biāo)簽； 根據(jù)訓(xùn)練樣本，訓(xùn)練AI質(zhì)檢模型； 其中，獲取訓(xùn)練樣本，包括： 獲取當(dāng)前訓(xùn)練樣本集； 對當(dāng)前訓(xùn)練樣本集進(jìn)行多樣性檢驗(yàn)，根據(jù)多樣性檢驗(yàn)結(jié)果，對當(dāng)前訓(xùn)練樣本集進(jìn)行補(bǔ)充，包括： 將當(dāng)前訓(xùn)練樣本集按照不同電路板類型劃分多個(gè)樣本子集； 根據(jù)歷史質(zhì)檢記錄中不同電路板類型的質(zhì)檢電路板的占比從大到小的順序?qū)颖咀蛹M(jìn)行排序，獲得樣本子集序列； 從頭到尾遍歷樣本子集序列，將正在遍歷的樣本子集的電路板類型作為靶向電路板類型； 對歷史質(zhì)檢記錄中靶向電路板類型的質(zhì)檢電路板進(jìn)行質(zhì)檢特征提取，獲得第一質(zhì)檢特征集； 對靶向電路板類型的樣本子集進(jìn)行質(zhì)檢特征提取，獲得第二質(zhì)檢特征集； 計(jì)算第一質(zhì)檢特征集與第二質(zhì)檢特征集的特征相似性； 若特征相似性大于等于靶向電路板類型對應(yīng)預(yù)設(shè)的特征相似性閾值，則繼續(xù)遍歷下一樣本子集； 若特征相似性小于靶向電路板類型對應(yīng)特征相似性閾值，獲取已遍歷樣本子集的電路板類型的占比和； 根據(jù)占比和、占比和閾值和預(yù)設(shè)的樣本集補(bǔ)充條件庫，確定樣本集補(bǔ)充條件； 根據(jù)樣本集補(bǔ)充條件對靶向樣本子集進(jìn)行針對性補(bǔ)充；靶向樣本子集為靶向電路板類型的樣本子集。

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