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龍圖騰網恭喜安拓銳高新測試技術(蘇州)有限公司申請的專利半導體測試插座獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114724968B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-06-17發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202110013375.1，技術領域涉及：H01L21/66；該發明授權半導體測試插座是由張龍;卓春麗;陳金榮設計研發完成，并于2021-01-06向國家知識產權局提交的專利申請。

本半導體測試插座在說明書摘要公布了：本發明涉及半導體封裝測試領域，公開了一種半導體測試插座，其中，半導體測試插座包括測試插座主體10、導向框20和高度調節機構30，導向框安裝于測試插座主體上方并具有中心插口21，高度調節機構嵌設在中心插口的邊緣處，高度調節機構包括能夠被操作的操作部31和能夠通過操作操作部而在定位于中心插口之外的第一位置和定位于中心插口之內的第二位置之間移動的移動部32，移動部包括用于在第二位置時支撐待測試件的支撐面321。根據不同類型的封裝的待測試件，可以使其選擇性地支撐在處于第二位置時的支撐面上或測試插座主體的頂面上，無需更換測試插座，提高了效率。

本發明授權半導體測試插座在權利要求書中公布了：1.一種半導體測試插座，其特征在于，所述半導體測試插座包括測試插座主體10、導向框20和高度調節機構30，所述導向框20安裝于所述測試插座主體10上方并具有中心插口21，所述高度調節機構30嵌設在所述中心插口21的邊緣處，所述高度調節機構30包括能夠被操作的操作部31和能夠通過操作所述操作部31而在定位于所述中心插口21之外的第一位置和定位于所述中心插口21之內的第二位置之間移動的移動部32，所述移動部32包括用于在所述第二位置時支撐待測試件的支撐面321； 所述導向框20設置有沿高度方向設置的通孔22，所述操作部31設置為能夠經由所述通孔22被接觸，以從外部被操作； 所述中心插口21為矩形，所述中心插口21的四個角部分別設置有所述高度調節機構30； 所述移動部32包括彼此呈直角設置的第一支撐邊322和第二支撐邊323以及連接所述第一支撐邊322和第二支撐邊323的移動塊324，所述移動塊324設置為能夠沿所述高度調節機構30所在的角部的對角線移動； 所述操作部31包括驅動塊311和連接于所述驅動塊311的滑塊312，所述驅動塊311可轉動地設置在所述通孔22內，所述滑塊312偏離所述驅動塊311的轉動軸線設置，所述移動塊324上設置有滑槽324a，所述滑塊312可轉動地與所述滑槽324a滑動配合。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人安拓銳高新測試技術(蘇州)有限公司，其通訊地址為：215026 江蘇省蘇州市蘇州工業園區杏林街78號14號廠房；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。