恭喜浜松光子學株式會社廣瀬和義獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜浜松光子學株式會社申請的專利三維測量裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN113295110B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-06-10發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202110187715.2，技術領域涉及：G01B11/25；該發明授權三維測量裝置是由廣瀬和義;龜井宏記;杉山貴浩;渡邊明佳設計研發完成，并于2021-02-18向國家知識產權局提交的專利申請。
本三維測量裝置在說明書摘要公布了：三維測量裝置101具備：一個或多個光源部102，其對被測量物SA照射具有規定圖案的測量光105；一個或多個攝像部103，其對被照射了測量光105的被測量物SA進行攝像；測量部104，其基于攝像部103的攝像結果測量被測量物SA的三維形狀，光源部102由M點振蕩的S－iPMSEL1構成。
本發明授權三維測量裝置在權利要求書中公布了：1.一種三維測量裝置，其中，具備：一個或多個光源部，其對被測量物照射具有規定圖案的測量光；一個或多個攝像部，其對被照射了所述測量光的所述被測量物進行攝像；測量部，其基于所述攝像部的攝像結果測量所述被測量物的三維形狀，所述光源部由M點振蕩的S－iPMSEL構成，所述M點振蕩的S－iPMSEL包含活性層和與該活性層光學耦合的相位調制層，所述相位調制層包含由第一折射率介質構成的基本層和由折射率與所述第一折射率介質不同的第二折射率介質構成的多個不同折射率區域，所述多個不同折射率區域以在相當于所述相位調制層的波數空間的倒格子空間的倒格子點上滿足M點處的振蕩條件的方式配置，在將所述活性層的發光波長設為λ的情況下，形成于所述倒格子空間的多個面內波數矢量中的至少一個的大小小于2πλ。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人浜松光子學株式會社，其通訊地址為：日本靜岡縣；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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