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龍圖騰網(wǎng)恭喜深圳中科飛測科技股份有限公司申請的專利膜層測量方法及裝置獲國家發(fā)明授權專利權，本發(fā)明授權專利權由國家知識產(chǎn)權局授予，授權公告號為：CN119688597B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權局官網(wǎng)在2025-06-03發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉：該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為：202510207978.3，技術領域涉及：G01N21/01；該發(fā)明授權膜層測量方法及裝置是由馬硯忠;鄭麥杰;戴鷺楠;白園園;孫韜;陳魯設計研發(fā)完成，并于2025-02-25向國家知識產(chǎn)權局提交的專利申請。

本膜層測量方法及裝置在說明書摘要公布了：本發(fā)明涉及光學檢測技術領域，尤其涉及一種膜層測量方法及裝置，膜層測量方法包括：采用泵浦光和探測光照射待測樣品，探測光經(jīng)待測樣品反射形成探測信號光，其中，探測光或者泵浦光經(jīng)回射器引導照射待測樣品，回射器沿第一方向往返移動以對探測光或者泵浦光進行時間延遲；接收回射器沿第一方向正向移動時的探測信號光，生成正向掃描光譜，以及接收回射器沿第一方向反向移動時的探測信號光，生成反向掃描光譜；整合正向掃描光譜和反向掃描光譜生成探測光譜，基于探測光譜獲取待測樣品的膜層性質。本發(fā)明至少有利于提升膜層性質的測量效率。

本發(fā)明授權膜層測量方法及裝置在權利要求書中公布了：1.一種膜層測量方法，其特征在于，包括：采用泵浦光和探測光照射待測樣品，所述探測光經(jīng)所述待測樣品反射形成探測信號光，其中，所述探測光或者所述泵浦光經(jīng)回射器引導照射所述待測樣品，所述回射器沿第一方向往返移動以對所述探測光或者所述泵浦光進行時間延遲；接收所述回射器沿第一方向正向移動時的探測信號光，生成正向掃描光譜，以及接收所述回射器沿第一方向反向移動時的探測信號光，生成反向掃描光譜；整合所述正向掃描光譜和所述反向掃描光譜生成探測光譜，基于所述探測光譜獲取所述待測樣品的膜層性質；整合所述正向掃描光譜和所述反向掃描光譜生成探測光譜包括：對所述正向掃描光譜或者所述反向掃描光譜進行補償，以使正向掃描光譜和反向掃描光譜時間對齊；對時間對齊的正向掃描光譜和反向掃描光譜進行平均處理，以獲得所述探測光譜；對所述正向掃描光譜或者所述反向掃描光譜進行補償包括：預先獲取不同測量狀態(tài)下正向掃描光譜和反向掃描光譜之間的時間偏移量，得到測量狀態(tài)與時間偏移量的對應關系；基于所述測量狀態(tài)與時間偏移量的對應關系，根據(jù)實際測量狀態(tài)確定待補償?shù)臅r間偏移量，采用所述待補償?shù)臅r間偏移量對所述正向掃描光譜或者所述反向掃描光譜進行補償。

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