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龍圖騰網恭喜中國計量科學研究院申請的專利一種電波暗室場地性能測試方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119716711B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-06-03發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510220564.4，技術領域涉及：G01R35/02；該發明授權一種電波暗室場地性能測試方法是由李抵非;李汝佳;黃攀;王立峰;劉天鑫設計研發完成，并于2025-02-27向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種電波暗室場地性能測試方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種電波暗室場地性能測試方法，涉及電波暗室場地性能測試領域，其包括以下步驟：獲取電波暗室場地內收發天線之間的頻率響應數據；將收發天線之間的頻率響應數據通過離散傅里葉逆變換轉換到時域；獲取時域下的收發天線間直線傳播信號的響應；獲取時域下的來自電波暗室的反射波信號的響應；通過離散傅里葉變換將時域下的收發天線間直線傳播信號的響應轉換到頻域，得到第一頻域數據；通過離散傅里葉變換將時域下的來自電波暗室的反射波信號的響應轉換到頻域，得到第二頻域數據；根據第一頻域數據和第二頻域數據測試電波暗室場地性能。本方法降低了進行暗室場地驗證的硬件投入成本。

本發明授權一種電波暗室場地性能測試方法在權利要求書中公布了：1.一種電波暗室場地性能測試方法，其特征在于，包括以下步驟：S1、通過不具備時域測量功能的矢量網絡分析儀獲取電波暗室場地內收發天線之間的頻率響應數據；S2、將收發天線之間的頻率響應數據通過離散傅里葉逆變換轉換到時域，獲取時域數據；S3、選擇時間窗，通過時域門帶通模式對時域數據進行截取，獲取時域下的收發天線間直線傳播信號的響應；選擇時間窗，通過時域門帶阻模式對時域數據進行截取，獲取時域下的來自電波暗室的反射波信號的響應；步驟S3中通過時域門帶通模式對時域數據進行截取的表達式為： 其中為時域下的收發天線間直線傳播信號的響應；為第個時間序列對應的時域數據；表示時域門函數，時域門函數包括矩形窗、漢寧窗和漢明窗；時域門的寬度大于天線的振鈴時間并小于最短路徑反射時間；S4、通過離散傅里葉變換將時域下的收發天線間直線傳播信號的響應轉換到頻域，得到第一頻域數據；通過離散傅里葉變換將時域下的來自電波暗室的反射波信號的響應轉換到頻域，得到第二頻域數據；S5、根據第一頻域數據和第二頻域數據測試電波暗室場地性能。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國計量科學研究院，其通訊地址為：100125 北京市朝陽區北三環東路18號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。