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龍圖騰網恭喜長鑫存儲技術有限公司申請的專利半導體器件的測試方法與半導體器件的測試裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115602238B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-30發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202110773197.2，技術領域涉及：G11C29/08；該發明授權半導體器件的測試方法與半導體器件的測試裝置是由鄭宇廷設計研發完成，并于2021-07-08向國家知識產權局提交的專利申請。

本半導體器件的測試方法與半導體器件的測試裝置在說明書摘要公布了：本公開提供了一種半導體器件的測試方法與測試裝置，該測試方法包括：根據第一保留時間范圍與第一步長形成多個測試值，根據從小到大的多個測試值依次對半導體器件中的多個存儲單元進行測試；確定各測試值對應的測試中保留時間小于測試值的存儲單元，并記錄該存儲單元的位置以及對應的測試值，形成第一測試數據；根據第二保留時間范圍與第二步長形成多個測試值，根據從大到小的多個測試值依次對半導體器件中的多個存儲單元進行測試；確定各測試值對應的測試中保留時間小于測試值的存儲單元，并記錄該存儲單元的位置以及對應的測試值，形成第二測試數據；根據第一測試數據與第二測試數據確定保留時間測試不通過的存儲單元的位置以及對應的測試值。

本發明授權半導體器件的測試方法與半導體器件的測試裝置在權利要求書中公布了：1.一種半導體器件的測試方法，其特征在于，包括：預設第一保留時間范圍與第一步長；根據所述第一保留時間范圍與所述第一步長形成多個測試值，根據從小到大的多個所述測試值依次對半導體器件中的多個存儲單元進行測試；確定各所述測試值對應的測試中保留時間小于測試值的存儲單元，并記錄保留時間小于測試值的存儲單元的位置以及對應的測試值，形成第一測試數據；預設第二保留時間范圍與第二步長；根據所述第二保留時間范圍與所述第二步長形成多個測試值，根據從大到小的多個所述測試值依次對半導體器件中的多個存儲單元進行測試；確定各所述測試值對應的測試中保留時間小于測試值的存儲單元，并記錄保留時間小于測試值的存儲單元的位置以及對應的測試值，形成第二測試數據；根據所述第一測試數據與所述第二測試數據確定保留時間測試不通過的存儲單元的位置以及對應的測試值。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人長鑫存儲技術有限公司，其通訊地址為：230601 安徽省合肥市經濟技術開發區空港工業園興業大道388號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。