恭喜佛山市國星半導體技術有限公司黎銀英獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜佛山市國星半導體技術有限公司申請的專利LED芯片電極粘附性的抽檢方法及分選方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114551266B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-30發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210098321.4，技術領域涉及：H01L21/66；該發明授權LED芯片電極粘附性的抽檢方法及分選方法是由黎銀英;彭凌;何德義;李進設計研發完成，并于2022-01-27向國家知識產權局提交的專利申請。
本LED芯片電極粘附性的抽檢方法及分選方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種LED芯片電極粘附性的抽檢方法及分選方法，涉及半導體光電器件測試領域。該抽檢方法包括：S1：根據電極形成的批次對晶圓進行分類，得到分類后的多個晶圓組；S2：對每組晶圓組進行抽樣并標記，以在每組晶圓組中抽出一個或多個標記晶圓；S3：對標記晶圓進行測試分選；并在每個標記晶圓中抽出一個或多個標記晶粒；S4：對標記晶粒的電極粘附性進行測試。本發明實現了晶圓、晶粒的自動選定、取樣，大幅度提升了取樣效率和準確性；同時也有效避免了漏檢，避免不合格的風險片流出。
本發明授權LED芯片電極粘附性的抽檢方法及分選方法在權利要求書中公布了：1.一種LED芯片電極粘附性的抽檢方法，其特征在于，包括：S1：根據電極蒸鍍鍋次對晶圓進行分類，得到分類后的多個晶圓組；其中，將同一鍋蒸鍍的晶圓分為一晶圓組；S2：對每組晶圓組進行抽樣并標記，以在每組晶圓組中抽出一個或多個標記晶圓；S3：對標記晶圓進行測試分選；并在每個標記晶圓中抽出一個或多個標記晶粒；其中，在晶粒取樣時，設置標記晶粒的取樣坐標，以使每個標記晶圓中標記晶粒的取樣位置、取樣數一致；S4：對標記晶粒的電極粘附性進行測試，并判斷電極粘附性是否位于預設閾值區間。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人佛山市國星半導體技術有限公司，其通訊地址為：528200 廣東省佛山市南海區獅山鎮羅村朗沙廣東新光源產業基地內光明大道18號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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