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龍圖騰網恭喜南京芯視元電子有限公司申請的專利LCoS芯片的補償裝置及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119580664B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-30發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510138517.5，技術領域涉及：G09G3/36；該發明授權LCoS芯片的補償裝置及系統是由胡健;陳弈星;張浩軍設計研發完成，并于2025-02-08向國家知識產權局提交的專利申請。

本LCoS芯片的補償裝置及系統在說明書摘要公布了：本申請提供LCoS芯片的補償裝置及系統，涉及顯示技術領域。該裝置包括：波前測量模塊、處理模塊及微控制模塊；波前測量模塊，用于測量待測的LCoS芯片產生的干涉圖樣，并測量LCoS芯片加載不同測試灰階圖時產生的干涉條紋；處理模塊，用于對干涉圖樣進行處理，得到LCoS芯片的初始面型數據，并對干涉條紋進行處理，生成LCoS芯片的灰階?相位響應曲線；微控制模塊，用于根據初始面型數據與灰階?相位響應曲線，得到LCoS芯片的電壓?相位補償曲線，以使得基于電壓?相位補償曲線對被補償LCoS裝置中的LCoS芯片上各像素點的相位進行補償，確保補償結果的準確性，提高了LCoS芯片的相位調制均勻性。

本發明授權LCoS芯片的補償裝置及系統在權利要求書中公布了：1.一種LCoS芯片的補償裝置，其特征在于，包括：波前測量模塊、處理模塊及微控制模塊；所述波前測量模塊的輸出端與所述處理模塊的輸入端連接，所述處理模塊的輸出端與所述微控制模塊的輸入端連接；所述波前測量模塊，用于按照預設的反射光路，對輸入的光源陣列進行反射，測量待測的LCoS芯片產生的干涉圖樣，并測量所述LCoS芯片加載不同測試灰階圖時產生的干涉條紋，并將所述干涉圖樣及各測試灰階圖對應的干涉條紋傳輸至所述處理模塊；所述處理模塊，用于對所述干涉圖樣進行處理，得到所述LCoS芯片的初始面型數據，并對所述干涉條紋進行處理，生成所述LCoS芯片的灰階-相位響應曲線，并將所述初始面型數據與所述灰階-相位響應曲線傳輸至所述微控制模塊；所述微控制模塊，用于根據所述初始面型數據與所述灰階-相位響應曲線，得到所述LCoS芯片的電壓-相位補償曲線，以使得基于所述LCoS芯片的電壓-相位補償曲線對被補償LCoS裝置中的LCoS芯片上各像素點的相位進行補償；其中，所述對所述干涉條紋進行處理，生成所述LCoS芯片的灰階-相位響應曲線，包括：根據各所述測試灰階圖對應的干涉條紋，確定各所述測試灰階圖對應的相位值；對各所述測試灰階圖與各所述測試灰階圖對應的相位值進行擬合處理，得到所述LCoS芯片的灰階-相位響應曲線；其中，所述LCoS芯片加載的測試灰階圖包括：上半區域和下半區域，上半區域的灰階值為0-255中的任一灰階，下半區域的灰階值為0；所述根據各所述測試灰階圖對應的干涉條紋，確定各所述測試灰階圖對應的相位值，包括：獲取所述測試灰階圖對應的干涉條紋中的上半區域的第一干涉條紋與下半區域的第二干涉條紋；根據所述第一干涉條紋與所述第二干涉條紋，確定所述干涉條紋的偏移量；獲取所述干涉條紋的周期，并根據所述干涉條紋的周期與所述干涉條紋的偏移量，確定所述測試灰階圖對應的相位值。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人南京芯視元電子有限公司，其通訊地址為：210000 江蘇省南京市江北新區星火路14號長峰大廈1號試驗樓201室；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。