恭喜北京懷柔實驗室劉鑒輝獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜北京懷柔實驗室申請的專利功率器件封裝老化監測方法、監測電路、驅動方法及裝置獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN119881581B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-30發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510372702.0,技術領域涉及:G01R31/26;該發明授權功率器件封裝老化監測方法、監測電路、驅動方法及裝置是由劉鑒輝;唐新靈;魏曉光;王耀華;于克凡;杜玉杰;代安琪;王靖飛設計研發完成,并于2025-03-27向國家知識產權局提交的專利申請。
本功率器件封裝老化監測方法、監測電路、驅動方法及裝置在說明書摘要公布了:本申請提供功率器件封裝老化監測方法、監測電路、驅動方法及裝置,該方法包括:根據第一加熱脈沖對待測器件加熱,使結溫升高至預設最大結溫;對待測器件散熱,散熱時長根據輔助封裝膜層與目標封裝膜層的熱時間常數和確定,待測器件的封裝結構包括輔助封裝膜層和目標封裝膜層,輔助封裝膜層位于目標封裝膜層與熱源之間;獲取待測器件第一當前結溫;根據第二加熱脈沖對待測器件加熱,加熱時長根據輔助封裝膜層的熱時間常數和確定,第二加熱脈沖根據第一加熱脈沖確定;獲取待測器件第二當前結溫;根據第一當前結溫、第二當前結溫和第二加熱脈沖,確定目標封裝膜層的當前熱阻;根據當前熱阻與預設熱阻判斷目標封裝膜層的老化狀態。
本發明授權功率器件封裝老化監測方法、監測電路、驅動方法及裝置在權利要求書中公布了:1.功率器件封裝老化監測方法,其特征在于,包括:根據第一加熱脈沖對待檢測功率器件進行加熱,以使所述待檢測功率器件的結溫升高至預設最大結溫;對當前結溫等于所述預設最大結溫的所述待檢測功率器件進行散熱,其中,所述待檢測功率器件的散熱時間是根據第一熱時間常數確定的,所述第一熱時間常數等于輔助封裝膜層與目標封裝膜層的熱時間常數之和,所述待檢測功率器件的封裝結構包括所述輔助封裝膜層和所述目標封裝膜層,所述輔助封裝膜層位于所述目標封裝膜層與所述待檢測功率器件相接觸的熱源之間;獲取所述待檢測功率器件的第一當前結溫;根據第二加熱脈沖對所述待檢測功率器件進行加熱,其中,所述第二加熱脈沖的加熱時間是根據第二熱時間常數確定的,所述第二熱時間常數等于全部所述輔助封裝膜層的熱時間常數之和,第二加熱脈沖功率是根據第一加熱脈沖功率、所述第一熱時間常數和所述第二熱時間常數確定的;獲取所述待檢測功率器件的第二當前結溫;根據所述第一當前結溫、所述第二當前結溫和所述第二加熱脈沖功率,確定所述目標封裝膜層的當前熱阻;根據所述當前熱阻與所述目標封裝膜層的預設熱阻,判斷所述目標封裝膜層的老化狀態。
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