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龍圖騰網恭喜中國工程物理研究院激光聚變研究中心申請的專利一種大口徑平板玻璃應力雙折射面成像測量方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119935368B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-30發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510421862.X，技術領域涉及：G01L1/24；該發明授權一種大口徑平板玻璃應力雙折射面成像測量方法是由高波;李強;王鳳蕊;魏小紅;劉昂;何宇航;柴立群;李東;石振東設計研發完成，并于2025-04-07向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種大口徑平板玻璃應力雙折射面成像測量方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種大口徑平板玻璃應力雙折射面成像測量方法，屬于光學測量技術領域，其目的在于解決現有技術中存在的玻璃應力雙折射測量效率低的技術問題。包括：將待測樣品、14波片移出測量光路，旋轉起偏器找到消光位置并在附近旋轉起偏器N個角度，得到角度；保持起偏器與檢偏器不變，將14波片移入測量光路中，旋轉14波片，找到消光位置；在消光位置附近旋轉起偏器N個角度，得到角度；保持14波片和檢偏器位置、方向不變，將待測樣品移入起偏器與14波片之間的測量光路中；通過起偏旋轉機構旋轉起偏器，當起偏器與參考坐標系x軸的夾角分別為0°、60°、120°時，通過CCD相機得到三幅圖像的光強，并根據三個光強得到待測樣品的應力雙折射。

本發明授權一種大口徑平板玻璃應力雙折射面成像測量方法在權利要求書中公布了：1.一種大口徑平板玻璃應力雙折射面成像測量方法，其特征在于：測量光路包括依次設置的平行光源、起偏器、14波片、檢偏器、成像鏡頭以及CCD相機；起偏器安裝于起偏旋轉機構上，14波片安裝于波片旋轉及位移機構上，待測樣品通過水平位移機構安裝于起偏器、14波片之間；測量步驟具體為：步驟1，將待測樣品、14波片移出測量光路，保持檢偏器方向不變，通過起偏旋轉機構逆時針旋轉起偏器，找到消光位置；在消光位置附近通過起偏旋轉機構旋轉起偏器N個角度，并通過最小二乘擬合函數，得到角度；步驟2，保持起偏器與檢偏器呈正交狀態且方向不變，將14波片移入起偏器與檢偏器之間的測量光路中，通過波片旋轉及位移機構逆時針旋轉14波片，找到消光位置；在消光位置附近通過起偏旋轉機構旋轉起偏器N個角度，通過最小二乘擬合函數，得到角度；步驟3，保持14波片和檢偏器位置、方向不變，將待測樣品移入起偏器與14波片之間的測量光路中；通過起偏旋轉機構旋轉起偏器，當起偏器與參考坐標系x軸的夾角分別為0°、60°、120°時，通過CCD相機得到三幅圖像的光強、、，并根據光強、、得到待測樣品的應力雙折射；步驟4，移動待測樣品，重復步驟3，測得待測樣品的不同位置的應力雙折射分布。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國工程物理研究院激光聚變研究中心，其通訊地址為：621900 四川省綿陽市綿山路64號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。