恭喜長鑫存儲技術有限公司潘宜飛獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜長鑫存儲技術有限公司申請的專利芯片測試方法、設備與電路獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115201655B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-27發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202110384893.4，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權芯片測試方法、設備與電路是由潘宜飛設計研發完成，并于2021-04-09向國家知識產權局提交的專利申請。
本芯片測試方法、設備與電路在說明書摘要公布了：本發明提供一種芯片測試方法、設備與電路。芯片測試方法包括：響應第一類預設測試指令控制待測芯片的接地引腳連接非零電位，所述第一類預設控制指令至少包括ODT檢測指令；對所述待測芯片輸出與所述預設控制指令對應的控制流，檢測所述待測芯片與所述預設測試指令對應的參數并輸出檢測結果。本發明實施例可以無需外接上拉電壓而進行芯片的ODT測試。
本發明授權芯片測試方法、設備與電路在權利要求書中公布了：1.一種芯片測試方法，其特征在于，包括：響應第一類預設測試指令控制待測芯片的接地引腳連接非零電位，所述第一類預設控制指令至少包括ODT檢測指令；對所述待測芯片輸出與所述預設控制指令對應的控制流，檢測所述待測芯片與所述預設測試指令對應的參數并輸出檢測結果；所述第一類預設測試控制指令包括ODT檢測指令，所述響應第一類預設控制指令控制待測芯片的接地引腳連接非零電位包括：響應ODT檢測指令控制所述待測芯片的接地引腳連接第一電壓；所述對所述待測芯片輸出與所述預設控制指令對應的控制流，檢測所述待測芯片與所述預設測試指令對應的參數并輸出檢測結果包括：在第一時間點對所述待測芯片輸出數據寫控制指令；檢測所述待測芯片的目標輸入輸出引腳的電壓發生變化的第二時間點；在所述第二時間點與所述第一時間點的差值符合預設值時，判斷所述目標輸入輸出引腳通過ODT檢測。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人長鑫存儲技術有限公司，其通訊地址為：230601 安徽省合肥市經濟技術開發區空港工業園興業大道388號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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