恭喜長鑫存儲技術有限公司孫圓圓獲國家專利權
買專利賣專利找龍圖騰,真高效! 查專利查商標用IPTOP,全免費!專利年費監(jiān)控用IP管家,真方便!
龍圖騰網(wǎng)恭喜長鑫存儲技術有限公司申請的專利測試方法及測試系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權專利權,本發(fā)明授權專利權由國家知識產(chǎn)權局授予,授權公告號為:CN115910179B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權局官網(wǎng)在2025-05-27發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉:該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為:202110957042.4,技術領域涉及:G11C29/08;該發(fā)明授權測試方法及測試系統(tǒng)是由孫圓圓;王佳設計研發(fā)完成,并于2021-08-19向國家知識產(chǎn)權局提交的專利申請。
本測試方法及測試系統(tǒng)在說明書摘要公布了:本申請實施例涉及半導體電路測試領域,特別涉及一種測試方法及測試系統(tǒng),包括:向存儲模塊中直接寫入第一初始數(shù)據(jù)和第一校驗數(shù)據(jù);向存儲模塊的同一地址中直接寫入第二初始數(shù)據(jù)和第二校驗數(shù)據(jù),存儲在存儲模塊中的第二初始數(shù)據(jù)覆蓋第一初始數(shù)據(jù),第二校驗數(shù)據(jù)覆蓋第一校驗數(shù)據(jù);向存儲模塊的同一地址中直接寫入第一初始數(shù)據(jù),存儲在存儲模塊中的第一初始數(shù)據(jù)覆蓋第二初始數(shù)據(jù);讀出存儲器的第一讀出數(shù)據(jù)和第二讀出數(shù)據(jù),并基于第一讀出數(shù)據(jù)或第二讀出數(shù)據(jù),判斷ECC模塊的功能是否異常,以提供對存儲器的ECC功能簡單且可靠的測試方法,且通過直接向存儲模塊中存儲數(shù)據(jù),節(jié)省ECC模塊的編碼時間,提高測試效率。
本發(fā)明授權測試方法及測試系統(tǒng)在權利要求書中公布了:1.一種測試方法,應用于存儲器,所述存儲器包括存儲模塊和ECC模塊,其特征在于,包括:向所述存儲模塊中直接寫入第一初始數(shù)據(jù)和第一校驗數(shù)據(jù),所述第一校驗數(shù)據(jù)為基于所述ECC模塊的編碼方式,根據(jù)所述第一初始數(shù)據(jù)編碼獲取;向所述存儲模塊的同一地址中直接寫入第二初始數(shù)據(jù)和第二校驗數(shù)據(jù),存儲在所述存儲模塊中的所述第二初始數(shù)據(jù)覆蓋所述第一初始數(shù)據(jù),所述第二校驗數(shù)據(jù)覆蓋所述第一校驗數(shù)據(jù),所述第一初始數(shù)據(jù)與所述第二初始數(shù)據(jù)具有數(shù)據(jù)差異,所述第一校驗數(shù)據(jù)與所述第二校驗數(shù)據(jù)具有數(shù)據(jù)差異;向所述存儲模塊的同一地址中直接寫入所述第一初始數(shù)據(jù),存儲在所述存儲模塊中的所述第一初始數(shù)據(jù)覆蓋所述第二初始數(shù)據(jù);讀出所述存儲器的第一讀出數(shù)據(jù)和第二讀出數(shù)據(jù),并基于所述第一讀出數(shù)據(jù)或第二讀出數(shù)據(jù),判斷所述ECC模塊的功能是否異常,所述第一讀出數(shù)據(jù)為從所述存儲模塊讀出且被所述ECC模塊校驗并修正后的所述第一初始數(shù)據(jù),所述第二讀出數(shù)據(jù)為從所述存儲模塊讀出且被所述ECC模塊校驗并修正后的所述第二校驗數(shù)據(jù)。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯(lián)系本專利的申請人或專利權人長鑫存儲技術有限公司,其通訊地址為:230601 安徽省合肥市經(jīng)濟技術開發(fā)區(qū)空港工業(yè)園興業(yè)大道388號;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
1、本報告根據(jù)公開、合法渠道獲得相關數(shù)據(jù)和信息,力求客觀、公正,但并不保證數(shù)據(jù)的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發(fā)布本報告當日的職業(yè)理解,僅供參考使用,不能作為本公司承擔任何法律責任的依據(jù)或者憑證。