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龍圖騰網恭喜南京郵電大學;南京郵電大學南通研究院有限公司申請的專利用于毫米波綜合孔徑輻射計的近場三維成像系統及方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114280602B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-27發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202111579451.1，技術領域涉及：G01S13/88；該發明授權用于毫米波綜合孔徑輻射計的近場三維成像系統及方法是由范皓然;陳建飛;張勝;蔡志匡設計研發完成，并于2021-12-22向國家知識產權局提交的專利申請。

本用于毫米波綜合孔徑輻射計的近場三維成像系統及方法在說明書摘要公布了：本發明公開了毫米波近場成像技術領域的用于毫米波綜合孔徑輻射計的近場三維成像系統及方法，包括：獲取目標場景的毫米波信號；基于毫米波信號構建可見度函數；基于可見度函數反演出不同距離參數下的二維場景圖；基于二維場景圖構建圖像?距離數據集；對圖像?距離數據集進行分區校準，構建不同區域目標的距離函數；基于距離函數構建成像模型，對目標場景進行分區域的自適應重構反演，得到毫米波圖像。本發明能夠提高復雜近距目標場景的成像反演圖像精度。

本發明授權用于毫米波綜合孔徑輻射計的近場三維成像系統及方法在權利要求書中公布了：1.用于毫米波綜合孔徑輻射計的近場三維成像方法，其特征是，包括：獲取目標場景的毫米波信號；基于毫米波信號構建可見度函數；基于可見度函數反演出不同距離參數下的二維場景圖；基于二維場景圖構建圖像-距離數據集；對圖像-距離數據集進行分區校準，構建不同區域目標的距離函數；基于距離函數構建成像模型，對目標場景進行分區域的自適應重構反演，得到毫米波圖像；對圖像-距離數據集進行分區校準，構建不同區域目標的距離函數，包括：根據圖像清晰度對圖像-距離數據集進行分區域的距離參數校正，對于第ki個分區，其區內圖像清晰度fkiR為：fkiR＝EOG[Tx,y,R.*Bkix,y]8式中，EOG為能量梯度函數，用于表征圖像的自清晰度；Tx,y,R為圖像-距離數據集；Bkix,y為第ki個分區的位置標示矩陣，表達式為： 式中，xki,yki為第ki個分區的中心坐標，Ns為分區塊的大小；依據各區清晰度fkiR確定max[fkiR]所對應的距離Rki，構建距離函數Rx,y:Rx,y＝meanRki,ifx,y∈Bki10式中，meanRki表示x,y在所有分區中Rki的平均值，Bki表示第ki個分區的位置標示矩陣。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人南京郵電大學;南京郵電大學南通研究院有限公司，其通訊地址為：226006 江蘇省南通市崇川區新康路33號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。