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龍圖騰網恭喜桂林電子科技大學;桂林航天工業學院申請的專利一種基于機器視覺的電機磁瓦表面缺陷檢測方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114565012B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-27發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210058175.2，技術領域涉及：G06T7/00；該發明授權一種基于機器視覺的電機磁瓦表面缺陷檢測方法是由胡聰;廖海文;周甜;江文文;朱愛軍;許川佩;黃喜軍;萬春霆設計研發完成，并于2022-01-19向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于機器視覺的電機磁瓦表面缺陷檢測方法在說明書摘要公布了：本發明涉及電機故障檢測技術領域，尤其涉及一種基于機器視覺的電機磁瓦表面缺陷檢測方法，通過配合高斯隨機光照生成器對輸入張量進行隨機光照疊加，以生成光照不平衡圖像參與模型訓練，以達到提升電機磁瓦缺陷分類模型的整體性能的目的，同時采用了等像素亮度區間劃分算法，通過對圖像動態計算各亮度區間的像素，進行等量分割，然后通過K最近鄰算法對游離點進行聚類，完成圖層劃分，最后并通過BP神經網絡對各圖層亮度進行校正，最后通過訓練好的分類模型對待檢測電機磁瓦表面灰度圖進行檢測分類，解決了現有的深度卷積神經網絡對光照不平衡圖像魯棒性低、泛化性較弱的技術問題。

本發明授權一種基于機器視覺的電機磁瓦表面缺陷檢測方法在權利要求書中公布了：1.一種基于機器視覺的電機磁瓦表面缺陷檢測方法，其特征在于，包括下列步驟：構建EfficientNet-GC模型；所述EfficientNet-GC模型由高斯隨機光照生成器、等像素亮度區間劃分算法、校正網絡和EfficientNetV2構成，高斯隨機光照生成器負責疊加隨機光照生成光照不平衡圖像，等像素亮度區間劃分算法將光照不平衡圖像劃分為8個等像素量的圖層，校正網絡負責光照校正，EfficientNetV2完成缺陷分類；所述高斯隨機光照生成器包括輸入通道和計算光照圖通道，所述輸入通道和所述計算光照圖通道的輸出滿足Retinex理論；所述等像素亮度區間劃分算法包括數據預處理、圖層分割和游離點聚類，通過對圖像動態計算各亮度區間的像素，再進行等量分割，然后通過K最近鄰算法對游離點進行聚類，最后完成圖層劃分；獲取電機磁瓦分類訓練樣本集；利用所述分類訓練樣本集訓練所述EfficientNet-GC模型，獲得訓練好的分類模型；將待檢測電機磁瓦的電機磁瓦表面灰度圖輸入所述訓練好的分類模型，獲得待檢測電機磁瓦的類別標簽。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人桂林電子科技大學;桂林航天工業學院，其通訊地址為：541004 廣西壯族自治區桂林市七星區金雞路1號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。