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龍圖騰網恭喜長鑫存儲技術有限公司申請的專利芯片測試方法、裝置、設備及存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114624575B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-27發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210195949.6，技術領域涉及：G01R31/3183；該發明授權芯片測試方法、裝置、設備及存儲介質是由古城設計研發完成，并于2022-03-01向國家知識產權局提交的專利申請。

本芯片測試方法、裝置、設備及存儲介質在說明書摘要公布了：本公開提供一種芯片測試方法、裝置、設備及存儲介質，測試方法包括：確定寄存器測試適配文件，根據預設測試環境下的寄存器描述文件確定寄存器測試適配文件，寄存器測試適配文件與預先確定的測試用例模板形式相適配；根據寄存器測試適配文件和測試用例模板構建測試用例，并執行測試用例，以對芯片進行測試；確定寄存器測試適配文件還包括，在預設測試環境發生變更時，響應于變更，確定寄存器描述文件的變更信息；根據變更信息，變更寄存器測試適配文件，無需進行繁瑣的寄存器信息查找、錄入工作，提高了芯片測試效率，降低出錯率，提高測試準確性，并能夠響應于預設測試環境發生變更，適應性地變更寄存器測試適配文件，無需重新構建測試環境。

本發明授權芯片測試方法、裝置、設備及存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種芯片測試方法，用于對預設測試環境下的芯片進行測試，其特征在于，所述方法包括：確定寄存器測試適配文件，根據所述預設測試環境下的寄存器描述文件確定寄存器測試適配文件，所述寄存器測試適配文件與預先確定的測試用例模板形式相適配；構建測試用例，根據所述寄存器測試適配文件和所述測試用例模板構建測試用例，并執行所述測試用例，以對所述芯片進行測試；所述確定寄存器測試適配文件還包括，在所述預設測試環境發生變更時，響應于所述變更，確定寄存器描述文件的變更信息；根據所述變更信息，變更所述寄存器測試適配文件；所述根據所述預設測試環境下的寄存器描述文件確定寄存器測試適配文件，包括：獲取所述預設測試環境對應的協議信息；在所述協議信息中提取寄存器任務分配列表，將所述寄存器任務分配列表作為所述寄存器描述文件；將所述寄存器任務分配列表轉化為寄存器測試用列表，將所述寄存器測試用列表作為所述寄存器測試適配文件。

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