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龍圖騰網恭喜北京懷柔實驗室申請的專利檢測處理裝置獲國家實用新型專利權，本實用新型專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN222914733U 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-27發(fā)布的實用新型授權公告中獲悉：該實用新型的專利申請?zhí)?專利號為：202520610400.8，技術領域涉及：H01L21/66；該實用新型檢測處理裝置是由李玲;劉瑞;姬世宇;唐新靈;魏曉光;吳沛飛;王耀華;焦倩倩設計研發(fā)完成，并于2025-04-02向國家知識產權局提交的專利申請。

本檢測處理裝置在說明書摘要公布了：本實用新型提供了一種檢測處理裝置，用于檢測和處理功率半導體芯片，檢測處理裝置包括：基座；承載臺，可活動地設置在基座上并用于承載功率半導體芯片；識別結構，設置在基座并具有識別頭，識別頭位于承載臺的上方并用于識別電極結構；測試結構，設置在基座上并具有測試頭，測試頭位于承載臺的上方并用于測試電極結構；剔除結構，設置在基座上并具有剔除頭，剔除頭位于承載臺的上方并用于將電極結構從芯片基體上剔除；施料結構，設置在基座上并具有施料頭，施料頭位于承載臺的上方并用于將絕緣材料施加在芯片基體上。本申請的技術方案能夠有效地解決相關技術中的檢測及處理芯片的效率較低的問題。

本實用新型檢測處理裝置在權利要求書中公布了：1.一種檢測處理裝置，用于檢測和處理功率半導體芯片（1），所述功率半導體芯片（1）包括芯片基體（2）以及設置在所述芯片基體（2）上的電極結構（3），其特征在于，所述檢測處理裝置包括：基座（10）；承載臺（20），可活動地設置在所述基座（10）上并用于承載所述功率半導體芯片（1）；識別結構（30），設置在基座（10）并具有識別頭（31），所述識別頭（31）位于所述承載臺（20）的上方并用于識別所述電極結構（3）；測試結構（40），設置在基座（10）上并具有測試頭（42），所述測試頭（42）位于所述承載臺（20）的上方并用于測試所述電極結構（3）；剔除結構（50），設置在基座（10）上并具有剔除頭（52），所述剔除頭（52）位于所述承載臺（20）的上方并用于將所述電極結構（3）從所述芯片基體（2）上剔除；施料結構（60），設置在基座（10）上并具有施料頭（63），所述施料頭（63）位于所述承載臺（20）的上方并用于將絕緣材料施加在所述芯片基體（2）上。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯(lián)系本專利的申請人或專利權人北京懷柔實驗室，其通訊地址為：101400 北京市懷柔區(qū)楊雁東一路8號院5號樓319室；或者聯(lián)系龍圖騰網官方客服，聯(lián)系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。