恭喜普冉半導體(上海)股份有限公司秦佳敏獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜普冉半導體(上海)股份有限公司申請的專利一種動態卡控的芯片差分單元測試方法及裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115116528B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210784901.9，技術領域涉及：G11C29/12；該發明授權一種動態卡控的芯片差分單元測試方法及裝置是由秦佳敏;周川淼設計研發完成，并于2022-07-05向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種動態卡控的芯片差分單元測試方法及裝置在說明書摘要公布了：本發明涉及半導體晶圓測試領域，提供了一種動態卡控的芯片差分單元測試方法，包括：設置三個測試檔位；以所述三個測試檔位進行卡控，對待測芯片差分單元進行測試，以獲得每個所述待測芯片差分單元的電壓和電流對應的數值；將所述待測芯片差分單元的電壓和電流對應的數值，與基準真值表進行比較，以獲取所述待測芯片差分單元的測試結果。本發明通過設置檔位進行動態卡控，以及設置真值表進行自動校驗，實現對芯片差分單元的測試，防止過殺良品芯片差分單元。
本發明授權一種動態卡控的芯片差分單元測試方法及裝置在權利要求書中公布了：1.一種動態卡控的芯片差分單元測試方法，其特征在于，包括：設置三個測試檔位；以所述三個測試檔位進行卡控，對待測芯片差分單元進行讀寫測試，以獲得每個所述待測芯片差分單元的電壓和電流對應的數值；將所述待測芯片差分單元的電壓和電流數值與基準真值表比較，獲取測試結果，根據輸出的數值對照真值表進行判斷，數值數組依據所述待測芯片差分單元的電壓和電流建立，相鄰兩個測試檔位都pass可保證有4檔窗口即判定所述待測芯片差分單元為良品。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人普冉半導體(上海)股份有限公司，其通訊地址為：201210 上海市浦東新區中國(上海)自由貿易試驗區盛夏路560號504室；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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