恭喜霖鼎光學(xué)(上海)有限公司張鑫泉獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)恭喜霖鼎光學(xué)(上海)有限公司申請的專利一種磨削工件表面的磨痕質(zhì)量檢測方法、存儲介質(zhì)及設(shè)備獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN119295467B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-23發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202411833940.9,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G06T7/00;該發(fā)明授權(quán)一種磨削工件表面的磨痕質(zhì)量檢測方法、存儲介質(zhì)及設(shè)備是由張鑫泉;張友棟;任明俊;張哲設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2024-12-13向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本一種磨削工件表面的磨痕質(zhì)量檢測方法、存儲介質(zhì)及設(shè)備在說明書摘要公布了:本發(fā)明涉及表面缺陷檢測領(lǐng)域,特別是涉及一種磨削工件表面的磨痕質(zhì)量檢測方法、存儲介質(zhì)及設(shè)備。包括:根據(jù)所有目標(biāo)磨痕對應(yīng)的灰度信息,獲取待檢測表面磨痕的像素深度特征值及像素寬度特征值;根據(jù)像素深度特征值,生成待檢測表面磨痕的截面深度檢測值及截面曲率半徑檢測值;使用截面深度檢測值及截面曲率半徑檢測值,對待檢測表面的磨痕質(zhì)量進(jìn)行評價(jià)檢測。本發(fā)明中通過統(tǒng)計(jì)所有目標(biāo)磨痕對應(yīng)的灰度信息,并將灰度信息中的灰度眾數(shù),作為用于表征大多數(shù)磨痕深度的像素深度特征值,并生成待檢測表面磨痕的截面深度檢測值。通過該值可以表征待檢測表面中所有磨痕截面的大致深度是多少,進(jìn)而來評價(jià)檢測工件的表面加工質(zhì)量。
本發(fā)明授權(quán)一種磨削工件表面的磨痕質(zhì)量檢測方法、存儲介質(zhì)及設(shè)備在權(quán)利要求書中公布了:1.一種磨削工件表面的磨痕質(zhì)量檢測方法,其特征在于,所述方法包括如下步驟:根據(jù)用于表示待檢測表面高度信息的形貌信息圖,獲取形貌信息圖中每一目標(biāo)磨痕對應(yīng)圖像區(qū)域的灰度信息;所述目標(biāo)磨痕為磨痕深度大于預(yù)設(shè)深度的磨痕;所述形貌信息圖中不同的高度使用不同的顏色表示;根據(jù)所有目標(biāo)磨痕對應(yīng)的灰度信息,獲取所述待檢測表面磨痕的像素深度特征值及像素寬度特征值;所述像素深度特征值為所有灰度信息中的灰度眾數(shù);所述像素寬度特征值為所有目標(biāo)磨痕對應(yīng)的圖像區(qū)域的像素寬度均值;根據(jù)所述像素深度特征值,生成所述待檢測表面磨痕的截面深度檢測值;根據(jù)所述待檢測表面磨痕的截面深度檢測值及像素寬度特征值,生成所述待檢測表面磨痕的截面曲率半徑檢測值;使用所述截面深度檢測值及截面曲率半徑檢測值,對所述待檢測表面的磨痕質(zhì)量進(jìn)行評價(jià)檢測;根據(jù)用于表示待檢測表面高度信息的形貌信息圖,獲取形貌信息圖中每一目標(biāo)磨痕對應(yīng)的圖像區(qū)域;根據(jù)形貌信息圖及每一目標(biāo)磨痕對應(yīng)的圖像區(qū)域的像素信息,生成所述待檢測表面的磨痕面積占比均值及磨痕周長占比均值;根據(jù)每一目標(biāo)磨痕對應(yīng)的圖像區(qū)域的像素信息,生成所述待檢測表面的磨痕縱橫比均值及磨痕分形維數(shù)均值;使用所述待檢測表面的磨痕面積占比均值、磨痕周長占比均值、磨痕縱橫比均值及磨痕分形維數(shù)均值、截面深度檢測值及截面曲率半徑檢測值,對所述待檢測表面的磨痕質(zhì)量進(jìn)行評價(jià)檢測;所述磨痕分形維數(shù)均值d滿足如下條件: ;其中,n為待檢測表面中目標(biāo)磨痕的總數(shù);i2為第i個(gè)目標(biāo)磨痕對應(yīng)的圖像區(qū)域中邊界像素的總數(shù);i1為第i個(gè)目標(biāo)磨痕對應(yīng)的圖像區(qū)域中除邊界像素之外的剩余像素總數(shù);所述待檢測表面的磨痕面積占比均值a、磨痕周長占比均值b及磨痕縱橫比均值c,分別滿足如下條件: ;;;其中,Si為第i個(gè)目標(biāo)磨痕對應(yīng)的圖像區(qū)域中的像素總數(shù);Sz為形貌信息圖的像素總數(shù);Pi為第i個(gè)目標(biāo)磨痕對應(yīng)的圖像區(qū)域中邊界像素的總數(shù);Pz為形貌信息圖的邊界像素總數(shù);Qiw為第i個(gè)目標(biāo)磨痕對應(yīng)圖像區(qū)域的外接矩形在寬度方向上的像素總數(shù);Qic為第i個(gè)目標(biāo)磨痕對應(yīng)圖像區(qū)域的外接矩形在長度方向上的像素總數(shù)。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人霖鼎光學(xué)(上海)有限公司,其通訊地址為:200241 上海市閔行區(qū)元江路525號19幢第3層;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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