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龍圖騰網恭喜武漢永力睿源科技有限公司申請的專利一種芯片老化測試過程中的芯片絕緣缺陷檢測裝置及方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119556117B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510130301.4，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權一種芯片老化測試過程中的芯片絕緣缺陷檢測裝置及方法是由李少華;鄧衛華;昝國驥;阮班棟;董雷;高騰;黃文章;程航設計研發完成，并于2025-02-05向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種芯片老化測試過程中的芯片絕緣缺陷檢測裝置及方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種芯片老化測試過程中的芯片絕緣缺陷檢測裝置及方法，其包括：檢測電源；導電單元；首端導線、尾端導線、若干中間導線；電壓采樣單元，其分別連接所述導電單元，用于獲取經過每一導線流向導電單元的電流所產生的對應的當前電壓模擬信號，且將當前電壓模擬信號轉換為當前電壓數字信號；以及上位機，其用于根據所有當前電壓數字信號以及采樣電壓?芯片數量之間的映射關系確定是否有芯片與導電單元發生短路，以及確定發生短路的芯片編號。本發明基于預先構建的采樣電壓?芯片數量之間的映射關系，通過將自動檢測獲得的當前電壓數字信號與映射關系的對比，即可快速確定是否有芯片存在絕緣缺陷，以及發生短路的芯片位置。

本發明授權一種芯片老化測試過程中的芯片絕緣缺陷檢測裝置及方法在權利要求書中公布了：1.一種芯片老化測試過程中的芯片絕緣缺陷檢測裝置，其特征在于，包括：檢測電源，其具有電源正極V+以及電源負極V-，且所述電源正極V+連接依次串聯的n個芯片D1、D2、...、Dn中，第1個芯片D1的正極，每一芯片均有與其唯一對應的編號；導電單元；首端導線，其一端連接依次串聯的n個芯片D1、D2、...、Dn中，第1個芯片D1的正極，另一端連接所述導電單元；尾端導線，其一端連接依次串聯的n個芯片D1、D2、...、Dn中，第n個芯片Dn的負極，另一端連接所述導電單元；若干中間導線，且每相鄰兩個芯片之間，均有一中間導線的一端同時連接前一芯片的負極以及后一芯片的正極，另一端連接所述導電單元；電壓采樣單元，其分別連接所述導電單元以及電源負極V-，用于獲取經過每一導線流向導電單元的電流所產生的對應的當前電壓模擬信號，且將每一當前電壓模擬信號轉換為對應的當前電壓數字信號；以及上位機，其連接所述電壓采樣單元，用于根據所有當前電壓數字信號以及采樣電壓-芯片數量之間的映射關系確定是否有芯片與導電單元發生短路，以及確定發生短路的芯片編號。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人武漢永力睿源科技有限公司，其通訊地址為：430070 湖北省武漢市東湖新技術開發區佛祖嶺西路18號永力科技園；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。