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龍圖騰網恭喜象帝先計算技術(重慶)有限公司申請的專利芯片測試方法、裝置、電子設備及可讀存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN117007933B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210466608.8，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權芯片測試方法、裝置、電子設備及可讀存儲介質是由王宇設計研發完成，并于2022-04-29向國家知識產權局提交的專利申請。

本芯片測試方法、裝置、電子設備及可讀存儲介質在說明書摘要公布了：本公開提供一種芯片測試方法、裝置、電子設備及可讀存儲介質。其中，芯片測試方法包括：獲得被測芯片的原始測試向量文件，原始測試向量文件包括JTAG接口的時序波形數據和functionclock接口的時序波形數據；對JTAG接口的每個時序波形數據進行修改，使得每個時序波形數據對應的波形的持續時間延長為原始持續時間的N倍，從而獲得變換后的測試向量文件；原始持續時間等于functionclock接口的最高有效頻率所對應的周期，N等于functionclock接口的最高有效頻率與JTAG接口的最高有效頻率的比值；利用變換后的測試向量文件對被測芯片進行測試。本公開中，通過將JTAG接口的時序波形數據的持續時間延長為原始持續時間的N倍，使得在芯片測試的FunctionSetup階段，function的測試頻率實現最大化。

本發明授權芯片測試方法、裝置、電子設備及可讀存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種芯片測試方法，包括：獲得被測芯片的原始測試向量文件，所述原始測試向量文件包括JTAG接口的時序波形數據和functionclock接口的時序波形數據；對所述JTAG接口的每個時序波形數據進行修改，使得所述JTAG接口的每個時序波形數據對應的波形的持續時間延長為原始持續時間的N倍，從而獲得變換后的測試向量文件；所述原始持續時間等于所述functionclock接口的最高有效頻率所對應的周期，所述N等于所述functionclock接口的最高有效頻率與所述JTAG接口的最高有效頻率的比值；利用所述變換后的測試向量文件對所述被測芯片進行測試；所述原始測試向量文件包括多行測試向量和多行備注；所述方法還包括：對所述原始測試向量文件的備注進行遍歷，判斷遍歷到的每行備注中是否包括預設起始位置；所述預設起始位置用于表征：所述JTAG接口的時序波形數據在所述原始測試向量文件中的起點；所述對所述JTAG接口的每個時序波形數據進行修改，包括：在確定出包括所述預設起始位置的備注后，將該備注的下一行作為起點，對所述原始測試向量文件的剩余行進行遍歷，針對遍歷到的每行測試向量，對每行測試向量中JTAG接口的時序波形數據進行修改，直至遍歷到包含預設結束位置的備注；所述預設結束位置用于表征：所述JTAG接口的時序波形數據在所述原始測試向量文件中的終點；所述JTAG接口的時序波形數據包括TCK引腳的時序波形數據，所述TCK引腳的時序波形為脈沖波形；所述針對遍歷到的每行測試向量，對每行測試向量中JTAG接口的時序波形數據進行修改，包括：針對遍歷到的每行測試向量，將每行測試向量變換成N行測試向量；所述N行測試向量的前N2行測試向量中，每行測試向量中TCK引腳的時序波形數據為0，所述N行測試向量的后N2行測試向量中，每行測試向量中TCK引腳的時序波形數據為1；或者，所述N行測試向量的前N2行測試向量中，每行測試向量中TCK引腳的時序波形數據為1，所述N行測試向量的后N2行測試向量中，每行測試向量中TCK引腳的時序波形數據為0。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人象帝先計算技術(重慶)有限公司，其通訊地址為：401135 重慶市渝北區龍興鎮兩江大道618號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。