恭喜中國科學院上海光學精密機械研究所劉曉鳳獲國家專利權
買專利賣專利找龍圖騰,真高效! 查專利查商標用IPTOP,全免費!專利年費監控用IP管家,真方便!
龍圖騰網恭喜中國科學院上海光學精密機械研究所申請的專利皮秒激光光學元件的全角度真空激光損傷閾值測試裝置及方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115127781B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-16發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202210730152.1,技術領域涉及:G01M11/02;該發明授權皮秒激光光學元件的全角度真空激光損傷閾值測試裝置及方法是由劉曉鳳;趙元安;柯立公;李大偉;徐光;朱翔宇;徐子媛;連亞飛;朱美萍;邵建達設計研發完成,并于2022-06-24向國家知識產權局提交的專利申請。
本皮秒激光光學元件的全角度真空激光損傷閾值測試裝置及方法在說明書摘要公布了:一種皮秒激光光學元件的全角度真空激光損傷閾值測試裝置及方法,包括光學元件固定系統,損傷用皮秒激光系統,皮秒激光損傷監測系統和激光防護模塊;該裝置中與真空環境相關的在線CCD成像系統和待測光學元件放置角度固定,將需要調節的部分限制在調節自由度比較大的空氣環境,通過利用旋轉和上下移動的偏振片方便地實現了真空環境中皮秒激光光學元件的全角度激光損傷測試,避免了涉及真空環境調節不便的問題。該方法在測試區域內采用光斑疊合測試方法,并結合多脈沖輻照考察損傷的穩定性,能夠準確評估光學元件在皮秒激光應用下可安全承受的能量密度。
本發明授權皮秒激光光學元件的全角度真空激光損傷閾值測試裝置及方法在權利要求書中公布了:1.一種皮秒激光光學元件的全角度真空激光損傷閾值測試裝置,其特征在于,包括:光學元件固定系統,損傷用皮秒激光系統,皮秒激光損傷監測系統和激光防護模塊;所述光學元件固定系統,包括圓形真空腔體124、位于該圓形真空腔體124內的光學元件固定裝置以及控制該光學元件位置的二維調整機構,所述光學元件固定裝置用于固定待測光學元件123,使所述待測光學元件123的法線方向與水平方向順時針成45°;在所述圓形真空腔體124上分別設有與待測光學元件123法線夾角成70°、63°、45°、23°的70°入射光管道115、63°衍射光管道116、45°入射光管道119、45°反射光管道126、23°入射光管道122、23°透射光管道128;所述損傷用皮秒激光系統,包括皮秒激光器101、能量調節器102、快門103、半波片104、偏振片106、第一45°反射鏡113、第二聚焦透鏡114、第三聚焦透鏡118、第二45°反射鏡120和第四聚焦透鏡121;所述皮秒激光損傷監測系統,包括計算機112、第一單面增透膜105、第二單面增透膜108、能量計110、第一聚焦透鏡109、位于該第一聚焦透鏡109焦點位置的光束質量分析儀111以及位于所述待測光學元件123的法線方向且與所述圓形真空腔體124相連的在線CCD成像系統125,所述計算機112分別與所述能量調節器102、快門103、能量計110、光束質量分析儀111、偏振片106、在線CCD成像系統125和光學元件固定裝置相連;所述激光防護模塊,包括第一吸收池107、第二吸收池117、第三吸收池127、第四吸收池129;分別放置于偏振片106的透射光方向以及63°衍射光管道116、45°反射光管道126、23°透射光管道128的出口位置;所述皮秒激光器101輸出的激光依次經過能量調節器102、快門103和半波片104后,入射到所述第一單面增透膜105,經該第一單面增透膜105透射的透射光入射到所述偏振片106,該偏振片106由計算機112控制,實現上下移動或角度旋轉;當所述偏振片106的法線方向與入射激光逆時針夾角成-57.5°時,經該偏振片106反射的第一發射光依次經所述第一45°反射鏡113、第二聚焦透鏡114和70°入射光管道115輻照所述待測光學元件123表面,經該待測光學元件123衍射的衍射光通過所述63°衍射光管道116由第二吸收池117吸收;當所述偏振片106的法線方向與入射激光夾順時針角成56°時,經該偏振片106反射的第二發射光依次經所述第二45°反射鏡120、第四聚焦透鏡121和23°入射光管道122輻照所述待測光學元件123表面,經該待測光學元件123透射的透射光通過所述23°透射光管道128由第四吸收池129吸收;當所述偏振片106移出光路時,經所述第一單面增透膜105透射的透射光依次經所述第三聚焦透鏡118和45°入射光管道119輻照所述待測光學元件123表面,經該待測光學元件123反射的反射光通過45°反射光管道126由第三吸收池127吸收;經所述第一單面增透膜105反射的反射光入射到所述第二單面增透膜108,經該第二單面增透膜108透射的透射光入射到所述能量計110,經該第二單面增透膜108反射的發射光,經所述第一聚焦透鏡109聚焦后,入射到光束質量分析儀111上。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院上海光學精密機械研究所,其通訊地址為:201800 上海市嘉定區清河路390號;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息,力求客觀、公正,但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解,僅供參考使用,不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。