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龍圖騰網恭喜中國科學院合肥物質科學研究院申請的專利用于寬帶腔增強吸收光譜扣除雜散光的方法及存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115979979B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202310002388.8，技術領域涉及：G01N21/31；該發明授權用于寬帶腔增強吸收光譜扣除雜散光的方法及存儲介質是由段俊;秦敏;方武;謝品華設計研發完成，并于2023-01-03向國家知識產權局提交的專利申請。

本用于寬帶腔增強吸收光譜扣除雜散光的方法及存儲介質在說明書摘要公布了：本發明的一種用于寬帶腔增強吸收光譜扣除雜散光的方法及存儲介質，該方法步驟為：S1、寬帶腔增強吸收光譜系統中不使用濾光片進行測量，獲得光譜Iλ；S2、根據干擾光主要波段，選用合適濾光片，獲得未經修正的雜散光光譜I0λ；S3、對I0λ進行數據修正，獲得修正后的I0′λ，即為干擾光對測量波段造成的雜散光部分；S4、寬帶腔增強吸收光譜系統測量過程中可以不使用濾光片，對獲得的光譜均進行雜散光修正即可。使用本發明后，寬帶腔增強吸收光譜系統實際測量過程中可以不使用濾光片，避免了使用濾光片會削減“真實”光譜的輻射強度，以及使用濾光片可能存在一定結構而對吸收光譜擬合結果造成干擾的情況，從而提高系統性能。

本發明授權用于寬帶腔增強吸收光譜扣除雜散光的方法及存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種用于寬帶腔增強吸收光譜扣除雜散光的方法，其特征在于，包括以下步驟，S1、寬帶腔增強吸收光譜系統中不使用濾光片進行測量，獲得光譜，并根據光譜的峰形確定導致測量波段存在雜散光的干擾光主要波段；S2、根據干擾光主要波段，選用對應濾光片，該濾光片在測量波段的透射率極低到設定值且在干擾光主要波段的透射率較高，獲得未經修正的雜散光光譜；S3、選擇測量波段外且沒有干擾光的波段，將光譜與做擬合，獲得擬合函數，使用該擬合函數對進行數據修正，獲得修正后的，即為干擾光對測量波段造成的雜散光部分；S4、寬帶腔增強吸收光譜系統使用過程中不使用濾光片，對獲得的光譜均進行修正，獲得扣除雜散光后的光譜，即，則扣除寬帶腔增強吸收光譜技術測量中的雜散光的影響。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院合肥物質科學研究院，其通訊地址為：230031 安徽省合肥市蜀山區蜀山湖路350號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。