恭喜此芯科技(無錫)有限公司;此芯科技(北京)有限公司秦雙雙獲國家專利權
買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！
龍圖騰網恭喜此芯科技(無錫)有限公司;此芯科技(北京)有限公司申請的專利一種測試用例生成方法、裝置、存儲介質及電子設備獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119397972B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411985574.9，技術領域涉及：G06F30/3312；該發明授權一種測試用例生成方法、裝置、存儲介質及電子設備是由秦雙雙;張偉浩;黃瀚文;王帆;胡清河設計研發完成，并于2024-12-31向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種測試用例生成方法、裝置、存儲介質及電子設備在說明書摘要公布了：本發明提出一種測試用例生成方法、裝置、存儲介質及電子設備，根據基礎測試用例對仿真對象進行仿真測試，獲取第一仿真測試結果；根據第一仿真測試結果確定缺失的時序關鍵路徑；獲取缺失的時序關鍵路徑對應的觸發方式集合，觸發方式集合包括一條或多條觸發方式，觸發方式包括觸發配置的執行方式和觸發指令的執行方式；將觸發方式集合中一條觸發方式插入基礎測試用例，以得到修正后的第一測試用例。通過對時序關鍵路徑的檢測，完成基礎測試用例調整，從而節省對待測芯片的設計深入了解的時間，從而縮短整個項目周期，也可以節省人員成本。
本發明授權一種測試用例生成方法、裝置、存儲介質及電子設備在權利要求書中公布了：1.一種測試用例生成方法，其特征在于，所述方法包括：根據基礎測試用例對仿真對象進行仿真測試，獲取第一仿真測試結果，其中，所述仿真對象為待測芯片的仿真模型，所述第一仿真測試結果包括每一路仿真信號對應的波形圖；根據所述第一仿真測試結果確定缺失的時序關鍵路徑，其中，所述缺失的時序關鍵路徑為所述仿真測試結果未覆蓋的時序關鍵路徑，所述時序關鍵路徑表示其對應的兩路仿真信號按照預定順序在相鄰周期分別進行翻轉；獲取所述缺失的時序關鍵路徑對應的觸發方式集合，所述觸發方式集合包括一條或多條觸發方式，所述觸發方式包括觸發配置的執行方式和觸發指令的執行方式；將所述觸發方式集合中一條觸發方式插入基礎測試用例，以得到修正后的第一測試用例。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人此芯科技(無錫)有限公司;此芯科技(北京)有限公司，其通訊地址為：214000 江蘇省無錫市經濟開發區太湖街道震澤路688號太湖信息技術產業園1號樓523-26；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
免責聲明
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
開放平臺
擔保交易
惠及多方
會員特惠
專屬平臺
適合多方
數據共享
功能齊全
皖公網安備 34010402703815號