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龍圖騰網恭喜中國工程物理研究院激光聚變研究中心申請的專利ICF中黑腔壁反照率的原位測量方法、系統及計算機存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119716963B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510230769.0，技術領域涉及：G01T1/29；該發明授權ICF中黑腔壁反照率的原位測量方法、系統及計算機存儲介質是由任寬;任國利;劉杰;杜華冰;劉云婷;趙航;劉耀遠;董建軍;楊正華;鄭建華;姚立;孫奧;鄧克立;楊冬;李志超;吳玉遲;王峰設計研發完成，并于2025-02-28向國家知識產權局提交的專利申請。

本ICF中黑腔壁反照率的原位測量方法、系統及計算機存儲介質在說明書摘要公布了：本發明公開一種ICF中黑腔壁反照率的原位測量方法、系統及計算機存儲介質，包括：在ICF激光打靶實驗中，采用兩套空間分辨輻射流探測設備分別同時測量黑腔內壁上光斑區和再發射區的X射線輻射流；構建與在ICF激光打靶實驗中使用的黑腔相同的黑腔模型；將測量得到的所述黑腔內壁上光斑區和再發射區的X射線輻射流以及朗伯體發射性質賦予所述黑腔模型內壁相應區域；在所述黑腔模型內，通過視角因子對所述黑腔模型的待測再發射區的入射X射線輻射流求和，得到所述黑腔模型的待測再發射區的入射輻射流；根據所述黑腔模型的待測再發射區的入射輻射流和測量得到的再發射區的X射線輻射流，得到黑腔壁反照率。本發明不改變黑腔結構，所測量反照率結果準確。

本發明授權ICF中黑腔壁反照率的原位測量方法、系統及計算機存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種ICF中黑腔壁反照率的原位測量方法，其特征在于，包括：在ICF激光打靶實驗中，采用兩套空間分辨輻射流探測設備分別同時測量黑腔內壁上光斑區和再發射區的X射線輻射流；構建與在ICF激光打靶實驗中使用的黑腔相同的黑腔模型；將測量得到的所述黑腔內壁上光斑區和再發射區的X射線輻射流以及朗伯體發射性質賦予所述黑腔模型內壁相應區域；在所述黑腔模型內，通過視角因子對所述黑腔模型的待測再發射區的入射X射線輻射流求和，得到所述黑腔模型的待測再發射區的入射輻射流；根據所述黑腔模型的待測再發射區的入射輻射流和測量得到的再發射區的X射線輻射流，得到黑腔壁反照率；通過視角因子對所述黑腔模型的待測再發射區的入射X射線輻射流求和，包括： 其中，表示所述黑腔模型的待測再發射區的入射輻射流，表示所述黑腔模型的待測再發射區的面元數量，表示所述黑腔模型的待測再發射區的面元的入射X射線輻射流，表示所述黑腔模型的待測再發射區的面元的面積，表示所述黑腔模型中除了待測再發射區以外的再發射區的面元數量，表示光斑區的面元數量，、分別表示光斑區和再發射區的X射線輻射流，、分別表示光斑區的面元和除了待測再發射區以外的再發射區的面元的面積，、表示視角因子。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國工程物理研究院激光聚變研究中心，其通訊地址為：621900 四川省綿陽市綿山路64號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。