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龍圖騰網恭喜諾威有限公司申請的專利集成測量系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN113330300B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-13發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：201980089433.X，技術領域涉及：G01N21/95；該發明授權集成測量系統是由埃拉德·多坦;摩西·萬托斯克;希蒙·亞洛夫;瓦萊里·戴希;羅伊·林格爾;貝尼·舒爾曼;約西·巴爾·翁;沙哈里·巴桑設計研發完成，并于2019-11-17向國家知識產權局提交的專利申請。

本集成測量系統在說明書摘要公布了：提出了一種測量系統，被配置用于與加工設備集成，用于對結構進行光學測量。該測量系統包括：支撐組件，用于將被測量的結構保持在測量平面中，支撐組件被配置且能操作為在與測量平面平行的平面內旋轉并且在測量平面中沿著第一橫向軸移動；光學系統，限定法向和斜向光學方案的照射和收集光通道；光學系統包括光學頭，光學頭包括位于照射和收集光通道中的至少三個透鏡單元；支架組件，包括：用承載光學頭的支撐單元；以及引導單元，被配置且能操作為引導支撐單元沿著垂直于第一橫向軸的第二橫向軸延伸的路徑滑動運動，路徑沿著垂直于第一橫向軸的第二橫向軸延伸；和光學窗口布置，包括形成在面板中至少三個光學窗口，面板位于光學頭與測量平面之間，與測量平面相距一定距離，窗口以間隔開的平行關系布置并且平行于路徑延伸，光學窗口與照射和收集光通道對齊，用于分別根據法向和斜向光學方案傳播從光學頭照射的光和將從被照射區域返回的光傳播到光學頭。

本發明授權集成測量系統在權利要求書中公布了：1.一種測量系統，被配置用于與加工設備集成，用于對結構進行光學測量，所述測量系統包括：支撐組件，用于將被測量的結構保持在測量平面中，所述支撐組件被配置且能操作為在與所述測量平面平行的平面內旋轉并且在所述測量平面中沿著第一橫向軸移動；光學系統，限定法向和斜向光學測量方案的照射和收集光通道；所述光學系統包括光學頭，所述光學頭包括位于所述照射和收集光通道中的含第一透鏡單元、第二透鏡單元以及第三透鏡單元的至少三個透鏡單元；支架組件，包括：用于承載所述光學頭的支撐單元；以及引導單元，被配置且能操作為引導所述支撐單元沿著垂直于所述第一橫向軸的第二橫向軸延伸的路徑滑動運動；以及光學窗口布置，包括含第一光學窗口、第二光學窗口以及第三光學窗口的至少三個光學窗口，所述至少三個光學窗口形成在面板中，所述面板位于所述光學頭與所述測量平面之間，與所述測量平面相距一定距離，所述第一透鏡單元和所述第一光學窗口與法向光學測量方案的所述照射和收集光通道相關聯；所述第二透鏡單元和所述第二光學窗口與所述斜向光學測量方案的照射光通道相關聯；所述第三透鏡單元和所述第三光學窗口與所述斜向光學測量方案的收集光通道相關聯；以及所述至少三個光學窗口以間隔開的平行關系布置并且平行于所述路徑延伸，所述至少三個光學窗口與所述照射和收集光通道對齊，用于分別根據所述法向和斜向光學方案傳播從所述光學頭照射的光和將從被照射區域返回的光傳播到所述光學頭。

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