長春禹衡光學有限公司茍敬德獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉長春禹衡光學有限公司申請的專利反射式位移測量裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN112902854B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-13發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202110349859.3，技術領域涉及：G01B11/02；該發明授權反射式位移測量裝置是由茍敬德;王洋;楊尚;趙爾瑞;李德勝設計研發完成，并于2021-03-31向國家知識產權局提交的專利申請。
本反射式位移測量裝置在說明書摘要公布了：本發明提供一種反射式位移測量裝置，包括：投影系統、指示光柵、反射標尺光柵和接收系統，投影系統發出的平行光入射到指示光柵，并經過指示光柵入射到反射標尺光柵的表面，再反射回指示光柵產生莫爾條紋投影到接收系統轉換為電信號；指示光柵包括玻璃基材，在玻璃基材鍍有吸光膜，在吸光膜上刻蝕有由振幅光柵和相位光柵組成的只擁有±1級衍射條紋的復振幅光柵。本發明提供的反射式位移測量裝置能夠在提高能使用率、降低光柵的制造難度的條件下獲得理想的光強分布。
本發明授權反射式位移測量裝置在權利要求書中公布了：1.一種反射式位移測量裝置，其特征在于，包括：投影系統、指示光柵、反射標尺光柵和接收系統，所述投影系統包括光源和準直鏡，所述光源用于發光，所述準直鏡用于將光源發出的光轉換為平行光，所述投影系統發出的平行光入射到所述指示光柵，并經過所述指示光柵入射到所述反射標尺光柵的表面，再反射回所述指示光柵產生莫爾條紋投影到所述接收系統轉換為電信號；所述指示光柵包括玻璃基材，在所述玻璃基材鍍有吸光膜，在所述吸光膜上刻蝕有由振幅光柵和相位光柵組成的只擁有±1級衍射條紋的復振幅光柵；在所述吸光膜上刻蝕有貫穿其厚度且等間距排布的第一溝槽形成所述振幅光柵，在相間隔的第一溝槽內向所述玻璃基材刻蝕第二溝槽形成所述相位光柵；所述第二溝槽的寬度為所述第一溝槽兩側的吸光膜長度的二倍。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人長春禹衡光學有限公司，其通訊地址為：130000 吉林省長春市高新開發區飛躍東路333號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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