恭喜際絡科技(上海)有限公司安建平獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜際絡科技(上海)有限公司申請的專利單目3D檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN113887290B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-13發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202111013236.5,技術領域涉及:G06V20/64;該發明授權單目3D檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質是由安建平;郝雨萌;程新景設計研發完成,并于2021-08-31向國家知識產權局提交的專利申請。
本單目3D檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質在說明書摘要公布了:本發明提供一種單目3D檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質,該方法包括:獲取待檢測畫面中目標的2D檢測結果和3D檢測結果;將3D檢測結果投影到待檢測畫面上,獲得投影后2D檢測結果;根據2D檢測結果和投影后2D檢測結果對3D檢測結果進行迭代調整,獲得調整后的3D檢測結果;根據2D檢測結果和調整后的3D檢測結果對待檢測畫面上的目標進行2D框標注和3D框標注,實現有效優化輸出的3D檢測結果,同時提升3D檢測結果的合理性和穩定性,提高單目3D檢測的整體精度。
本發明授權單目3D檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質在權利要求書中公布了:1.一種單目3D檢測方法,其特征在于,包括:獲取待檢測畫面中目標的2D檢測結果和3D檢測結果;將所述3D檢測結果投影到所述待檢測畫面上,獲得投影后2D檢測結果;根據所述2D檢測結果和所述投影后2D檢測結果對3D檢測結果進行迭代調整,獲得調整后的3D檢測結果;根據所述2D檢測結果和調整后的3D檢測結果對待檢測畫面上的目標進行2D框標注和3D框標注;所述根據所述2D檢測結果和所述投影后2D檢測結果對3D檢測結果進行迭代調整,獲得調整后的3D檢測結果,包括:根據所述2D檢測結果和所述投影后2D檢測結果確定損失信息;損失信息能夠表征所述2D檢測結果和所述投影后2D檢測結果的吻合程度;根據所述損失信息和預設的迭代步長和終止步長對3D檢測結果中目標參數進行調整,獲得調整后的3D檢測結果;所述3D檢測結果中的目標參數包括深度值和朝向角,相應地,根據所述損失信息和預設的迭代步長和終止步長對3D檢測結果中目標參數進行調整,獲得調整后的3D檢測結果,包括:設定對應于所述深度值depth的初始迭代步長step_d,迭代終止步長step_d_end,對應于所述朝向角rot的初始迭代步長step_r,迭代終止步長step_r_end,設置迭代步長衰減系數η;L是2D框和初始的投影2D框確定的損失值;1若step_dstep_d_end,令depth_neg=depth–step_d,depth_pos=depth+step_d,重新計算3D檢測結果投影,計算投影2D框與2D框的損失值L_neg和L_pos;2若L_neg=L和L_posL,令step_d=step_d*η,跳轉到4,否則進入3;3若L_posL和L_posL_neg,令depth=depth+step_d,L=L_pos;否則令depth=depth-step_d,L=L_neg;4若step_rstep_r_end,令rot_neg=rot–step_r,rot_pos=rot+step_r,重新計算3D檢測結果投影,計算投影2D框與2D框的損失值L_neg和L_pos;5若L_neg=L和L_posL,令step_r=step_r*η,跳轉到1,否則進入6;6若L_posL和L_posL_neg,令rot=rot+step_r,L=L_pos;否則令rot=rot-step_r,L=L_neg;其中,depth_neg和depth_pos分別是深度值在兩個調整方向上的調整值,rot_neg和rot_pos分別是朝向角在兩個調整方向上的調整值;L_neg和L_pos分別是深度值或朝向值在兩個調整方向上的調整值對應的2D框與投影2D框之間的損失值。
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