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龍圖騰網(wǎng)恭喜東莞市臺(tái)易電子科技有限公司申請(qǐng)的專利芯片老化測(cè)試的治具控制方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN119471330B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-09發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202510062224.3，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R31/28；該發(fā)明授權(quán)芯片老化測(cè)試的治具控制方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)是由涂炳超設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2025-01-15向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本芯片老化測(cè)試的治具控制方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)在說(shuō)明書摘要公布了：本發(fā)明涉及芯片老化測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種芯片老化測(cè)試的治具控制方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)，該方法包括：對(duì)測(cè)試治具進(jìn)行參數(shù)采集，得到原始測(cè)試數(shù)據(jù)；進(jìn)行控制信號(hào)分析和信號(hào)融合，將融合溫度控制指令輸入測(cè)試治具的溫控單元，得到穩(wěn)態(tài)測(cè)試數(shù)據(jù)；進(jìn)行多維度分析和數(shù)據(jù)篩選，得到有效測(cè)試數(shù)據(jù)；進(jìn)行性能特征提取，得到性能特征數(shù)據(jù)；進(jìn)行分組，并計(jì)算各測(cè)試通道的權(quán)重系數(shù)，結(jié)合失效模式標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行加權(quán)處理，得到老化特性數(shù)據(jù)；將老化特性數(shù)據(jù)輸入壽命預(yù)測(cè)模型進(jìn)行性能預(yù)測(cè)值和壽命預(yù)測(cè)值計(jì)算，得到芯片老化測(cè)試結(jié)果，本發(fā)明能夠準(zhǔn)確捕捉芯片性能退化特征，同時(shí)輸出性能預(yù)測(cè)值和壽命預(yù)測(cè)值，提供了全面的老化評(píng)估結(jié)果。

本發(fā)明授權(quán)芯片老化測(cè)試的治具控制方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種芯片老化測(cè)試的治具控制方法，其特征在于，所述方法包括：對(duì)測(cè)試治具進(jìn)行參數(shù)采集，得到原始測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試治具包括并行的多個(gè)測(cè)試通道；將所述原始測(cè)試數(shù)據(jù)分別輸入溫度應(yīng)力補(bǔ)償器和動(dòng)態(tài)參數(shù)控制器進(jìn)行控制信號(hào)分析和信號(hào)融合，生成融合溫度控制指令，并將所述融合溫度控制指令輸入所述測(cè)試治具的溫控單元，得到穩(wěn)態(tài)測(cè)試數(shù)據(jù)；對(duì)所述穩(wěn)態(tài)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行多維度分析和數(shù)據(jù)篩選，得到有效測(cè)試數(shù)據(jù)；將所述有效測(cè)試數(shù)據(jù)輸入特征增強(qiáng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行性能特征提取，得到性能特征數(shù)據(jù)；按照所述多個(gè)測(cè)試通道對(duì)所述性能特征數(shù)據(jù)進(jìn)行分組，并計(jì)算各測(cè)試通道的權(quán)重系數(shù)，結(jié)合失效模式標(biāo)準(zhǔn)對(duì)各測(cè)試通道的性能特征數(shù)據(jù)進(jìn)行加權(quán)處理，得到老化特性數(shù)據(jù)；具體包括：按照所述多個(gè)測(cè)試通道對(duì)所述性能特征數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)分組，將每個(gè)測(cè)試通道的電壓特征、電流特征和溫度特征進(jìn)行組合，得到通道特征組；對(duì)所述通道特征組中的每組特征數(shù)據(jù)計(jì)算方差和均值，通過(guò)局部敏感哈希算法對(duì)每組特征數(shù)據(jù)進(jìn)行相似度計(jì)算，得到特征相似度矩陣；基于所述特征相似度矩陣構(gòu)建圖神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，將每個(gè)測(cè)試通道作為圖中的節(jié)點(diǎn)，相似度作為邊的權(quán)重，通過(guò)圖卷積運(yùn)算提取通道間關(guān)系，得到通道關(guān)聯(lián)特征；將所述通道關(guān)聯(lián)特征輸入自適應(yīng)權(quán)重計(jì)算單元，采用注意力機(jī)制計(jì)算每個(gè)測(cè)試通道的重要性得分，通過(guò)Softmax函數(shù)歸一化處理，得到通道權(quán)重系數(shù)；根據(jù)預(yù)設(shè)的芯片失效模式標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)建故障特征庫(kù)，將所述故障特征庫(kù)中的特征向量與所述通道特征組進(jìn)行余弦相似度計(jì)算，得到失效模式匹配度，并對(duì)所述失效模式匹配度和所述通道權(quán)重系數(shù)進(jìn)行乘積運(yùn)算，生成綜合權(quán)重系數(shù)，并對(duì)所述綜合權(quán)重系數(shù)進(jìn)行歸一化處理，得到目標(biāo)權(quán)重系數(shù)；根據(jù)所述目標(biāo)權(quán)重系數(shù)對(duì)所述通道特征組進(jìn)行加權(quán)求和運(yùn)算，將所述多個(gè)測(cè)試通道的特征數(shù)據(jù)融合為統(tǒng)一特征向量，得到融合特征數(shù)據(jù)，并對(duì)所述融合特征數(shù)據(jù)進(jìn)行特征標(biāo)準(zhǔn)化處理，得到所述老化特性數(shù)據(jù)；將所述老化特性數(shù)據(jù)輸入壽命預(yù)測(cè)模型進(jìn)行性能預(yù)測(cè)值和壽命預(yù)測(cè)值計(jì)算，得到芯片老化測(cè)試結(jié)果。

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