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龍圖騰網(wǎng)恭喜中國科學(xué)院深圳先進(jìn)技術(shù)研究院申請的專利一種導(dǎo)熱系數(shù)的測試系統(tǒng)及方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN115479970B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-06發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號(hào)為：202110664308.6，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N25/20；該發(fā)明授權(quán)一種導(dǎo)熱系數(shù)的測試系統(tǒng)及方法是由曾小亮;韓猛;柏雪;孫蓉;許建斌設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2021-06-16向國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種導(dǎo)熱系數(shù)的測試系統(tǒng)及方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種導(dǎo)熱系數(shù)的測試系統(tǒng)及方法。該系統(tǒng)包括：待測樣品、樣品放置臺(tái)、激光源模塊、示波器、電流源模塊和數(shù)據(jù)處理模塊；待測樣品放置于樣品放置臺(tái)上，并使其平行正對激光源模塊，激光源模塊發(fā)出納秒激光照射待測樣品的預(yù)設(shè)表面；電流源模塊與待測樣品電連接；示波器與待測樣品和數(shù)據(jù)處理模塊電連接，用于采集待測樣品在激光源模塊照射下的電阻變化數(shù)據(jù)，并傳輸至數(shù)據(jù)處理模塊；數(shù)據(jù)處理模塊用于收集和處理電阻變化數(shù)據(jù)，得到待測樣品的導(dǎo)熱系數(shù)。實(shí)現(xiàn)利用金屬導(dǎo)電性與溫度的關(guān)系對待測樣品后表面因激光照射引起的溫度變化進(jìn)行測量，從而衡量熱量在待測樣品法向方向上的傳熱能力，簡化了測量操作流程，提高了測量精度的效果。

本發(fā)明授權(quán)一種導(dǎo)熱系數(shù)的測試系統(tǒng)及方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種導(dǎo)熱系數(shù)的測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：待測樣品、樣品放置臺(tái)、激光源模塊、示波器、電流源模塊和數(shù)據(jù)處理模塊；所述待測樣品放置于所述樣品放置臺(tái)上，并使其平行正對所述激光源模塊，所述激光源模塊發(fā)出納秒激光照射所述待測樣品的預(yù)設(shè)表面；所述電流源模塊與所述待測樣品電連接，用于為所述待測樣品提供直流電流；所述示波器與所述待測樣品和所述數(shù)據(jù)處理模塊電連接，用于采集所述待測樣品在所述激光源模塊照射下的電阻變化數(shù)據(jù)，并將所述電阻變化數(shù)據(jù)傳輸至所述數(shù)據(jù)處理模塊；所述數(shù)據(jù)處理模塊用于收集和處理所述電阻變化數(shù)據(jù)，得到所述待測樣品的導(dǎo)熱系數(shù)；所述待測樣品由待測目標(biāo)薄膜、聚酯薄膜和金屬鍍層依次層疊形成；所述待測樣品的所述待測目標(biāo)薄膜的預(yù)設(shè)表面朝向光源方向用于接收所述納秒激光照射；所述示波器用于采集所述待測目標(biāo)薄膜被所述納秒激光照射后引起的所述金屬鍍層的溫度響應(yīng)而導(dǎo)致的電阻變化數(shù)據(jù)。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人中國科學(xué)院深圳先進(jìn)技術(shù)研究院，其通訊地址為：518055 廣東省深圳市南山區(qū)深圳大學(xué)城學(xué)苑大道1068號(hào)；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。