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龍圖騰網(wǎng)恭喜北京銳達(dá)儀表有限公司申請的專利放射監(jiān)測的高精度測量設(shè)備及測量方法、檢測方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN114942202B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-06發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202210538499.6，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N9/24；該發(fā)明授權(quán)放射監(jiān)測的高精度測量設(shè)備及測量方法、檢測方法是由呼秀山;李圓圓設(shè)計研發(fā)完成，并于2022-05-17向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本放射監(jiān)測的高精度測量設(shè)備及測量方法、檢測方法在說明書摘要公布了：本公開提供了一種放射監(jiān)測的高精度測量設(shè)備及測量方法、檢測方法。本公開的測量設(shè)備包括：輻射裝置、探測裝置、監(jiān)測裝置，輻射裝置安裝在被測容器的第一側(cè)面，探測裝置安裝在被測容器的第二側(cè)面，第一側(cè)面與所述第二側(cè)面相對，被測容器內(nèi)裝有介質(zhì)，監(jiān)測裝置安裝在輻射裝置的第一側(cè)面并連接探測裝置。本公開的測量設(shè)備能夠無接觸地對容器或管道內(nèi)介質(zhì)的密度、濃度和或料位進(jìn)行測量。

本發(fā)明授權(quán)放射監(jiān)測的高精度測量設(shè)備及測量方法、檢測方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種放射監(jiān)測的高精度測量設(shè)備，其特征在于，包括：輻射裝置，安裝在被測容器的第一側(cè)面，被測容器內(nèi)裝有介質(zhì)；探測裝置，安裝在被測容器的第二側(cè)面，第一側(cè)面與第二側(cè)面相對；監(jiān)測裝置，安裝在輻射裝置的第一側(cè)面并連接探測裝置；輻射裝置包括殼體和放射源，殼體包裹放射源，放射源用于同時產(chǎn)生共線但方向相反的第一射線與第二射線；殼體包括：第一發(fā)射通道，朝向被測容器使放射源產(chǎn)生的第一射線穿過被測容器、經(jīng)介質(zhì)作用后進(jìn)入探測裝置；第二發(fā)射通道，朝向監(jiān)測裝置使放射源產(chǎn)生的第二射線直接進(jìn)入監(jiān)測裝置；探測裝置用于檢測射線形成探測射線測量信號，且用于檢測第一射線形成第一射線測量信號；監(jiān)測裝置用于檢測射線形成監(jiān)測射線測量信號，且用于直接檢測第二射線形成第二射線測量信號；探測裝置接收監(jiān)測裝置傳遞的監(jiān)測射線測量信號，比較探測射線測量信號與監(jiān)測射線測量信號的產(chǎn)生時間，若兩者產(chǎn)生時間具有同時性或時間間隔小于等于第一預(yù)設(shè)值，認(rèn)為此次監(jiān)測裝置檢測的監(jiān)測射線測量信號為第二射線測量信號且此次探測裝置檢測的探測射線測量信號為第一射線測量信號，判定探測裝置此次檢測的探測射線測量信號具有有效性且為第一射線測量信號，探測裝置記錄保存此次檢測的第一射線測量信號后處理分析獲得第一射線測量信號的測量信息，若兩者產(chǎn)生時間不具有同時性或時間間隔大于第一預(yù)設(shè)值時則探測裝置刪除或忽略此次檢測的探測射線測量信號。

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