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龍圖騰網恭喜山西華智弘興科技有限公司申請的專利基于X射線的芳綸纖維帶缺陷在線檢測方法及裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119510454B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-02發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510068891.2，技術領域涉及：G01N23/04；該發明授權基于X射線的芳綸纖維帶缺陷在線檢測方法及裝置是由李可;何光;陳冬冬;冀凡飛;韓旭;張雪冬;李濤設計研發完成，并于2025-01-16向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于X射線的芳綸纖維帶缺陷在線檢測方法及裝置在說明書摘要公布了：本申請涉及芳綸纖維帶缺陷檢測領域，公開一種基于X射線的芳綸纖維帶缺陷在線檢測方法及裝置。該方法包括：對物理特性圖像和材料參數分布圖進行潛在缺陷分析，得到潛在缺陷區域的空間分布數據；對潛在缺陷區域的空間分布數據進行物理特性量化分析，得到缺陷物理描述符，缺陷物理描述符包括密度異常特征、分子鏈取向紊亂程度和熱異常特征；根據預設的材料性能標準，對缺陷物理描述符進行多維度特征提取和權重分配，得到芳綸纖維帶的品質評分和物理性能參數，并根據品質評分和物理性能參數生成缺陷檢測報告。本申請提升了芳綸纖維帶缺陷檢測的全面性、準確性和可靠性。

本發明授權基于X射線的芳綸纖維帶缺陷在線檢測方法及裝置在權利要求書中公布了：1.一種基于X射線的芳綸纖維帶缺陷在線檢測方法，其特征在于，所述基于X射線的芳綸纖維帶缺陷在線檢測方法包括：對X射線與芳綸纖維的進行相互作用關系分析，得到X射線成像參數；基于所述X射線成像參數，對預置的芳綸纖維帶進行多模態物理特性成像，得到包括X射線透射圖像、X射線暗場圖像、偏振光學圖像和熱圖像的多模態數據集；對多模態數據集進行多尺度圖像分析，得到物理特性圖像和材料參數分布圖；對所述物理特性圖像和所述材料參數分布圖進行潛在缺陷分析，得到潛在缺陷區域的空間分布數據；對所述潛在缺陷區域的空間分布數據進行物理特性量化分析，得到缺陷物理描述符，所述缺陷物理描述符包括密度異常特征、分子鏈取向紊亂程度和熱異常特征，包括：對所述潛在缺陷區域的空間分布數據進行區域分割，提取每個缺陷區域的輪廓信息，并計算每個缺陷區域的面積、周長和形狀因子，得到缺陷幾何特征；根據所述X射線透射圖像中對應每個缺陷區域的灰度信息，計算每個缺陷區域內的平均密度和密度方差，并與周圍正常區域對比，得到密度異常特征；通過所述X射線暗場圖像和所述偏振光學圖像中對應每個缺陷區域的圖像參數信息，分析缺陷區域內的分子鏈取向分布，計算取向熵和取向一致性，得到分子鏈取向紊亂程度；基于所述熱圖像中對應每個缺陷區域的數據，計算每個缺陷區域的溫度分布特征，包括平均溫度偏差、溫度梯度和熱擴散系數，得到熱異常特征；對所述缺陷幾何特征、所述密度異常特征、所述分子鏈取向紊亂程度和所述熱異常特征進行歸一化處理，得到所述缺陷物理描述符；根據預設的材料性能標準，對所述缺陷物理描述符進行多維度特征提取和權重分配，得到芳綸纖維帶的品質評分和物理性能參數，并根據所述品質評分和所述物理性能參數生成缺陷檢測報告，包括：對所述缺陷物理描述符進行特征歸一化處理，得到歸一化特征向量；根據所述材料性能標準，對所述歸一化特征向量中的各個特征分量分配權重系數，得到加權特征向量；對所述加權特征向量進行非線性映射，將多維特征轉換為一維評分，得到芳綸纖維帶的品質評分；基于所述缺陷物理描述符中的密度異常特征、分子鏈取向紊亂程度和熱異常特征，通過回歸分析估算芳綸纖維帶的力學性能、熱穩定性和耐久性，得到物理性能參數；根據所述品質評分對芳綸纖維帶進行等級劃分，并根據所述物理性能參數，生成綜合質量評估結果；基于所述潛在缺陷區域的空間分布數據，生成缺陷分布圖，并對所述缺陷分布圖與所述綜合質量評估結果進行數據融合，得到所述缺陷檢測報告。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人山西華智弘興科技有限公司，其通訊地址為：030032 山西省太原市轉型綜合改革示范區唐槐產業園康壽街11號4號樓4層A286(中國山西留學人員創業園)；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。