恭喜浙江華睿科技股份有限公司周賞獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜浙江華睿科技股份有限公司申請的專利PIN針的缺陷檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115035031B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-29發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202210492875.2,技術領域涉及:G06T7/00;該發明授權PIN針的缺陷檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質是由周賞;史為平;劉羽;周璐;李銘設計研發完成,并于2022-05-07向國家知識產權局提交的專利申請。
本PIN針的缺陷檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質在說明書摘要公布了:本申請公開一種PIN針的缺陷檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質,屬于缺陷檢測技術領域,該方法包括:獲取N個線激光相機采集的待檢測電路板的點云數據,基于各線激光相機采集的點云數據,生成待檢測電路板上PIN針的第一深度圖,基于第一深度圖和參考電路板上PIN針的第二深度圖,判斷待檢測電路板上的PIN針是否缺失,進而輸出至少包括待檢測電路板上缺失PIN針的位置指示信息的缺陷檢測結果,其中,N是基于待檢測電路板的尺寸和單個線激光相機的采集范圍確定的,參考電路板上的PIN針不存在缺陷,從而提供了一種借助于線激光相機對PIN針進行缺陷檢測的方案。
本發明授權PIN針的缺陷檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質在權利要求書中公布了:1.一種PIN針的缺陷檢測方法,其特征在于,包括:獲取N個線激光相機采集的待檢測電路板的點云數據,其中,N是基于所述待檢測電路板的尺寸、PIN針設置方式和單個線激光相機的采集范圍確定的;基于各線激光相機采集的點云數據,生成所述待檢測電路板上PIN針的第一深度圖;基于所述第一深度圖和參考電路板上PIN針的第二深度圖,判斷所述待檢測電路板上的PIN針是否缺失,所述參考電路板上的PIN針不存在缺陷;輸出缺陷檢測結果,所述缺陷檢測結果至少包括所述待檢測電路板上缺失PIN針的位置指示信息;所述N個線激光相機包括一個主相機和N-1個從相機,基于各線激光相機采集的點云數據,生成所述待檢測電路板上PIN針的第一深度圖,包括:基于每個從相機到所述主相機的坐標系之間的轉換關系,將所述從相機采集的點云數據轉換到所述主相機的坐標系中;對各從相機轉換后的點云數據和所述主相機的點云數據進行融合處理,得到所述待檢測電路板的完整點云數據;基于所述完整點云數據,生成所述第一深度圖。
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