恭喜中國科學院合肥物質(zhì)科學研究院丁蕾獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)恭喜中國科學院合肥物質(zhì)科學研究院申請的專利一種太陽監(jiān)測輻照度儀狹縫面積的測量裝置獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN115265419B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-04-29發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202210696909.X,技術(shù)領域涉及:G01B11/28;該發(fā)明授權(quán)一種太陽監(jiān)測輻照度儀狹縫面積的測量裝置是由丁蕾;李健軍;鄭小兵;戚濤;袁銀麟;吳浩宇;翟文超設計研發(fā)完成,并于2022-06-20向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本一種太陽監(jiān)測輻照度儀狹縫面積的測量裝置在說明書摘要公布了:本發(fā)明公開了一種太陽監(jiān)測輻照度儀狹縫面積的測量裝置,該裝置使用高亮度積分球光源作為系統(tǒng)照明光源,利用4F系統(tǒng)將出射光準直入射到測量位置處,在測量處形成均勻的光斑,通過孔徑光闌限制入射角為0.5°,光斑通過狹縫后進入測量積分球內(nèi),使用高精度低噪聲探測器進行數(shù)據(jù)采集。通過轉(zhuǎn)輪切換標準圓孔與待測狹縫的位置實現(xiàn)標準圓孔與待測狹縫對比測量,進而實現(xiàn)待測狹縫面積的測量。本發(fā)明從通量法測量面積的基本原理出發(fā),通過與高精度標準圓孔面積的比對,實現(xiàn)了待測狹縫面積的高精度測量,減小了尺寸以及形位誤差對狹縫面積測量結(jié)果的影響這一科學問題,在光譜輻射測量、遙感高精度定標中具有廣泛應用前景。
本發(fā)明授權(quán)一種太陽監(jiān)測輻照度儀狹縫面積的測量裝置在權(quán)利要求書中公布了:1.一種太陽監(jiān)測輻照度儀狹縫面積的測量裝置,其特征在于:包括高亮度積分球光源、孔徑光闌、快門、消色差透鏡、電控載物轉(zhuǎn)輪、標準圓孔、待測狹縫和測量采集模塊;采用4F系統(tǒng),F(xiàn)為所述的消色差透鏡的焦距,即所述高亮度積分球光源出光口位于所述消色差透鏡的2倍焦距處,經(jīng)所述消色差透鏡1:1成像至2倍焦距處的標準圓孔和待測狹縫位置處,所成像平面非均勻性優(yōu)于0.5%,所述孔徑光闌位于所述消色差透鏡的焦點處,用于限制入射光的角度為0.5°;所述孔徑光闌與所述高亮度積分球光源出口平面的中心同軸,所述快門位于孔徑光闌后表面且緊貼孔徑光闌;所述電控載物轉(zhuǎn)輪通光孔的中心被固定在消色差透鏡的2倍焦距位置;在所述電控載物轉(zhuǎn)輪的通光孔處形成均勻的面光源,通過所述電控載物轉(zhuǎn)輪實現(xiàn)標準圓孔和待測狹縫的位置切換,記錄兩者測量的信號值,實現(xiàn)待測狹縫面積測量;所述的高亮度積分球光源內(nèi)壁涂層為聚四氟乙烯材料,內(nèi)壁直徑為200mm,出口直徑為25.4mm,內(nèi)置4盞35W的鹵鎢燈,且均勻分布在前半球上,所述鹵鎢燈旁裝有擋光板,防止光線直接出射;所述高亮度積分球光源垂直出光口沿球心方向上下各有一個風扇,便于所述高亮度積分球光源散熱,提高光源的穩(wěn)定性;所述高亮度積分球光源的非穩(wěn)定性小于0.5%,平面非均勻性小于0.5%,所述高亮度積分球光源內(nèi)置監(jiān)視硅探測器,用于修正波長穩(wěn)定性對測試結(jié)果的影響。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人中國科學院合肥物質(zhì)科學研究院,其通訊地址為:230031 安徽省合肥市蜀山湖路350號;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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