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龍圖騰網恭喜中國科學院合肥物質科學研究院申請的專利一種穆勒矩陣測量系統及測量方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115200712B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-29發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210724093.7，技術領域涉及：G01J4/00；該發明授權一種穆勒矩陣測量系統及測量方法是由張元志;王貽坤;王全福;張洋;鄧國慶;劉勇設計研發完成，并于2022-06-24向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種穆勒矩陣測量系統及測量方法在說明書摘要公布了：一種穆勒矩陣測量系統及測量方法，屬于偏振探測技術領域，解決如何快速且完整的測量樣品的穆勒矩陣問題，通過光源豎直向上發射調制光，第一垂直線偏振片用于將入射的調制光轉換為線偏振光；第一相位延遲片、第二相位延遲片調制線偏振光的偏振態，數字微反射鏡加載有條紋圖片，帶有條紋圖片的線偏振光在待測生物組織中發生散射，散射光依次經過第三相位延遲片、第一相位延遲片、第二垂直線偏振片后由相機捕捉；通過第一相位延遲片、第二相位延遲片、第三相位延遲片、第四相位延遲片控制調制線偏振光的偏振態，來控制偏振光對待測生物組織的測量深度，共調制16偏振光的偏振態，提高了出射光光強值的計算精確性，能夠計算出樣品的完整穆勒矩陣。

本發明授權一種穆勒矩陣測量系統及測量方法在權利要求書中公布了：1.一種基于穆勒矩陣測量系統的穆勒矩陣測量方法，其特征在于，所述的穆勒矩陣測量系統包括：光源系統11、起偏子系統12、待測樣品臺13、檢偏子系統14；所述的光源系統11包括：光源111、透鏡112、帶通濾波器113；所述的起偏子系統12包括：數字微反射鏡121、第一垂直線偏振片P1、第一相位延遲片LCVR1、第二相位延遲片LCVR2、第一成像透鏡L1、第一反射鏡122；所述的檢偏子系統14包括：第二反射鏡141、第三相位延遲片LCVR3、第四相位延遲片LCVR4、第二垂直線偏振片P2、第二成像透鏡L2、相機142；所述的光源111豎直向上發射調制光，經過透鏡112、帶通濾波器113后產生單一波長的調制光，所述的數字微反射鏡121將單一波長的調制光水平反射出去，沿著水平調制光的光路、從左到右依次設置第一垂直線偏振片P1、第一相位延遲片LCVR1、第二相位延遲片LCVR2、第一成像透鏡L1、第一反射鏡122，所述的數字微反射鏡121加載有條紋圖片，所述的第一垂直線偏振片P1用于將入射的調制光轉換為線偏振光，所述的第一相位延遲片LCVR1、第二相位延遲片LCVR2用于調制線偏振光的偏振態；水平調制光經過第一垂直線偏振片P1、第一相位延遲片LCVR1、第二相位延遲片LCVR2、第一成像透鏡L1后，再由第一反射鏡122將帶有條紋圖片的線偏振光投射到待測樣品臺13上放置的待測生物組織表面；帶有條紋圖片的線偏振光在待測生物組織中發生散射，散射光通過第二反射鏡141反射后水平射出，再依次經過第三相位延遲片LCVR3、第四相位延遲片LCVR4、第二垂直線偏振片P2、第二成像透鏡L2后，由相機142捕捉；所述的測量方法，包括以下步驟：S1、根據待測樣品的成像深度計算條紋圖片的空間頻率；S2、根據步驟S1計算出的空間頻率，選擇該空間頻率下的三張不同相位的條紋圖片，并將每張條紋圖片加載到數字微反射鏡121中；S3、使用起偏子系統12進行4次偏振態調制，檢偏子系統14進行4次調制，兩兩組合，得到16組不同的偏振態組合；S4、對每組偏振態組合分別投影所述的三張不同相位的條紋圖片，得到16組偏振態組合下的散射光的光強值，將每組偏振態組合下的散射光的光強值用斯托克斯矢量表示；S5、將每組偏振態組合下的散射光的光強值的斯托克斯矢量表示為檢偏子系統14的穆勒矩陣、樣品的穆勒矩陣、起偏子系統12的穆勒矩陣三者乘積的形式，通過取將每組偏振態組合下的散射光的光強值的斯托克斯矢量的總光強值元素，即斯托克斯矢量中的第一個元素，得到1個矩陣方程；S6、重復步驟S5，一共得到16組矩陣方程，通過求解該16組矩陣方程，從而求出樣品的穆勒矩陣中的16個元素的值。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院合肥物質科學研究院，其通訊地址為：230031 安徽省合肥市蜀山區蜀山湖路350號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。