恭喜河北工業大學劉啟明獲國家專利權
買專利賣專利找龍圖騰,真高效! 查專利查商標用IPTOP,全免費!專利年費監控用IP管家,真方便!
龍圖騰網恭喜河北工業大學申請的專利高速沖擊下光電元件過載測試裝置及其損傷評估方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN116499682B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-29發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202310598085.7,技術領域涉及:G01M7/08;該發明授權高速沖擊下光電元件過載測試裝置及其損傷評估方法是由劉啟明;楊偉龍;李濤;史寶軍;樊錚炎設計研發完成,并于2023-05-24向國家知識產權局提交的專利申請。
本高速沖擊下光電元件過載測試裝置及其損傷評估方法在說明書摘要公布了:本申請提出一種高速沖擊下光電元件過載測試裝置及其損傷評估方法,其中測試裝置包括具有第一外殼本體的測試本體,第一外殼本體內具有分隔組件以及設于分隔組件兩側的光電元器件和第一載荷測量組件;還包括與第一載荷測量組件電連接的載荷獲取組件;使用時,通過高速沖擊力作用于第一外殼本體上,再通過分隔組件將沖擊力傳導至光電元器件和第一載荷測量組件上,通過載荷獲取組件獲得第一載荷測量組件測量的作用在光電元器件上的載荷大小;沖擊后,將光電元器件取出并在損傷檢測組件上檢測得到損傷情況,和根據第一載荷測量組件得到作用到光電元器件上的載荷大小,得到載荷和損傷的對應關系,對制導系統光電元器件的選型和實施抗過載設計提供參考。
本發明授權高速沖擊下光電元件過載測試裝置及其損傷評估方法在權利要求書中公布了:1.一種高速沖擊下光電元件過載測試裝置,其特征在于,包括測試本體、載荷獲取組件以及損傷檢測組件;所述測試本體(1)包括:第一外殼本體(11),所述第一外殼本體(11)內具有第一空間,其一端具有第一開口(12);分隔組件(13),所述分隔組件(13)設于所述第一空間的中部,其兩端與所述第一外殼本體(11)的內壁連接,所述分隔組件(13)將所述第一空間分隔為與所述第一開口(12)連通的第二空間(14)以及第三空間(15);所述第二空間(14)用于放置所述光電元器件(2),所述光電元器件(2)設于所述分隔組件(13)中部;第一載荷測量組件(16),所述第一載荷測量組件(16)置于所述第三空間(15),設于所述分隔組件(13)遠離所述光電元器件(2)的一端,與所述光電元器件(2)同軸設置;當靠近所述第一載荷測量組件(16)側的所述第一外殼本體(11)的外壁受到高速沖擊后,所述第一載荷測量組件(16)用于測量傳導至所述光電元器件(2)上的沖擊載荷;所述載荷獲取組件設于所述第一外殼本體(11)外側,與所述第一載荷測量組件電連接,所述載荷獲取組件用于獲取所述第一載荷測量組件(16)測量的載荷;所述損傷檢測組件用于獲取受到沖擊后的所述光電元器件(2)的損傷情況;還包括:測試腔體(3),所述測試腔體(3)內具有第一腔體(31);端蓋本體,所述端蓋本體設于所述第一腔體(31),包括沿第一方向分布設置的左端蓋(41)和右端蓋(42);所述左端蓋(41)和所述右端蓋(42)相互靠近側都設有第一凹槽,兩個所述第一凹槽之間形成第四空間(43);第二外殼本體(44),所述第二外殼本體(44)置于所述第四空間(43)內,其兩端分別與所述左端蓋(41)和所述右端蓋(42)連接,所述第二外殼本體(44)內沿所述第一方向分布設有第五空間(441)和第六空間(442);所述測試本體(1)設于所述第五空間(441)內,其外壁與所述第二外殼本體(44)的內壁緊貼;第二載荷測量組件(5),所述第二載荷測量組件(5)設于所述第六空間(442)內,設于所述左端蓋(41)中部,與所述測試本體(1)同軸設置;沖擊炮彈(6),所述沖擊炮彈(6)設于所述左端蓋(41)遠離所述右端蓋(42),其外壁緊貼所述第一腔體(31)的內壁;氣動驅動組件,所述氣動驅動組件用于驅動所述沖擊炮彈(6)所在所述左端蓋(41)遠離所述右端蓋(42)端施加高速沖擊力。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人河北工業大學,其通訊地址為:300401 天津市北辰區雙口鎮西平道5340號;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息,力求客觀、公正,但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解,僅供參考使用,不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。