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龍圖騰網(wǎng)恭喜天津大學申請的專利一種F-P腔正交檢測的高精度微位移測量裝置及方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN119197332B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-04-18發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202411343616.9，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01B11/02；該發(fā)明授權(quán)一種F-P腔正交檢測的高精度微位移測量裝置及方法是由王菊;高也;于晉龍;羅浩;蘇學敏設(shè)計研發(fā)完成，并于2024-09-25向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種F-P腔正交檢測的高精度微位移測量裝置及方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種F?P腔正交檢測的高精度微位移測量裝置及方法，包括：分布式反饋半導體激光器、電光調(diào)制器、第一任意波形發(fā)生器、光環(huán)形器、低精細度F?P型干涉儀、摻鉺光纖放大器和正交檢測系統(tǒng)；反饋半導體激光器的輸出端與電光調(diào)制器的輸入端連接；電光調(diào)制器的輸出端與光環(huán)形器的第1輸入端口連接；第一任意波形發(fā)生器的輸出端與電光調(diào)制器的調(diào)制口輸入端連接；光環(huán)形器的第2端口與低精細度F?P型干涉儀的輸入端連接；環(huán)形器的第3端口與摻鉺光纖放大器的輸入端連接；摻鉺光纖放大器的輸出端與正交檢測系統(tǒng)連接。本發(fā)明通過消除絕對距離估算，具備測量精度高、靈敏度高的顯著優(yōu)勢。

本發(fā)明授權(quán)一種F-P腔正交檢測的高精度微位移測量裝置及方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種F-P腔正交檢測的高精度微位移測量裝置，其特征在于，包括：分布式反饋半導體激光器、電光調(diào)制器、第一任意波形發(fā)生器、光環(huán)形器、低精細度F-P型干涉儀、摻鉺光纖放大器和正交檢測系統(tǒng)；所述反饋半導體激光器的輸出端與電光調(diào)制器的輸入端連接；所述電光調(diào)制器的輸出端與光環(huán)形器的第1輸入端口連接；所述第一任意波形發(fā)生器的輸出端與電光調(diào)制器的調(diào)制口輸入端連接；所述光環(huán)形器的第2端口與低精細度F-P型干涉儀的輸入端連接；所述環(huán)形器的第3端口與摻鉺光纖放大器的輸入端連接；所述摻鉺光纖放大器的輸出端與正交檢測系統(tǒng)連接；所述正交檢測系統(tǒng)包括光電探測器、電放大器、第一電帶通濾波器、第二電帶通濾波器、第一電混頻器、第二電混頻器、第二任意波形發(fā)生器、第一低通濾波器、第二低通濾波器和正交解調(diào)系統(tǒng)；所述光電探測器輸入端與摻鉺光纖放大器的輸出端連接；所述光電探測器的輸出端與電放大器的輸入端連接；所述電放大器的第1輸出端與第一電帶通濾波器的輸入端連接；所述電放大器的第2輸出端與第二電帶通濾波器的輸入端連接；所述電帶通濾波器的輸出端與第一電混頻器的輸入端連接；所述電帶通濾波器的輸出端與第二電混頻器的輸入端連接；所述第一電混頻器的輸出端與第一低通濾波器的輸入端連接；所述第二電混頻器的輸出端與第二低通濾波器的輸入端連接；所述任意波形發(fā)生器的第1輸出端與第一電混頻器的本振信號輸入端連接；所述任意波形發(fā)生器的第2輸出端與第二電混頻器的本振信號輸入端連接；所述第一低通濾波器的輸出端與正交解調(diào)系統(tǒng)的第一路輸入端連接；所述第二低通濾波器的輸出端與正交解調(diào)系統(tǒng)的第二路輸入端連接。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人天津大學，其通訊地址為：300072 天津市南開區(qū)衛(wèi)津路92號；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。